[发明专利]一种水处理用荧光示踪剂及其使用方法无效
申请号: | 200810225357.4 | 申请日: | 2008-10-31 |
公开(公告)号: | CN101726475A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 万国晖;周建;平春霞;张英雄;周霖 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司北京化工研究院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;C09K11/56;C09K11/88;C09K11/89;C09K11/74;C09K11/70;C02F1/50;C02F5/00 |
代理公司: | 北京思创毕升专利事务所 11218 | 代理人: | 韦庆文 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 水处理 荧光 示踪剂 及其 使用方法 | ||
1.一种水处理用荧光示踪剂,其特征在于:
所述荧光示踪剂中含有半导体量子点,该半导体量子点是由半导体材料构成的具有荧光性能的纳米晶体,所述半导体材料选自CdS、CdSe、CdTe、ZnS、ZnTe、ZnSe、HgS、HgTe、HgSe、MgS、MgSe、MgTe、CaS、CaSe、CaTe、SrS、SrTe、SrSe、BaS、BaSe、BaTe、GaAs、InGaAs、InP、InAs中一种或几种,所述纳米晶体的粒径为0.1~10nm,在可见光区波长激发下具有荧光性能。
2.根据权利要求1所述的荧光示踪剂,其特征在于:
所述半导体量子点,是由至少2种所述半导体材料构成的、具有多层次壳/核结构和荧光性能的纳米晶体。
3.权利要求1或2所述荧光示踪剂的使用方法,该方法包括:
将所述荧光示踪剂与水处理药剂混配,投加到工业水系统中,通过监测所述荧光示踪剂在水系统中的浓度,控制所述水处理药剂在水系统中的浓度。
4.根据权利要求3所述的使用方法,其特征在于:
采用量子点编码技术,对不同的水处理药剂混配以不同的半导体量子点,分别投加到所述水系统中,通过荧光监测,同时监测多种半导体量子点的浓度,控制相应的水处理药剂在所述水系统中的浓度;所述水处理药剂的类型选自缓蚀剂、阻垢剂、杀菌剂中的一种或几种。
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