[发明专利]一种模拟采样开关及模数转换器有效
申请号: | 200810227394.9 | 申请日: | 2008-11-27 |
公开(公告)号: | CN101562453A | 公开(公告)日: | 2009-10-21 |
发明(设计)人: | 朱樟明;钱利波;杨银堂;李娅妮 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | H03M1/06 | 分类号: | H03M1/06;H03K17/687;G05F3/24;H03K5/24 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许 静 |
地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 模拟 采样 开关 转换器 | ||
1.一种模拟采样开关,其特征在于,包括:
采样开关电路,所述采样开关电路包括采样开关管,所述采样开关电路用于控制所述采样开关管的导通状态;
比较器电路,用于比较所述采样开关管输入信号电位与输出信号电位的高低,将高电位端作为所述采样开关管的源极,并将高电位端的信号分别连接到所述采样开关管的衬底和栅极。
2.根据权利要求1所述的模拟采样开关,其特征在于,所述采样开关电路包括:
第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管和第三PMOS晶体管;
所述第一PMOS晶体管作为采样开关管,所述第一PMOS晶体管的源极与输入信号端口相连,所述第一PMOS晶体管的漏极与输出信号端连接;
所述第二PMOS晶体管的漏极与所述第一PMOS晶体管的栅极连接,所述第二PMOS晶体管的源极与所述第三PMOS晶体管的漏极连接,所述第二PMOS晶体管的栅极接参考地,所述第二PMOS晶体管作为恒导通管,避免所述第三PMOS晶体管因为源漏电压高于电源电压而击穿;
所述第三PMOS晶体管的源极与电源电压连接,所述第三PMOS晶体管的栅极与时钟控制信号连接,所述第三PMOS晶体管作为时钟控制管,控制所述第一PMOS晶体管的开关状态。
3.根据权利要求2所述的模拟采样开关,其特征在于,所述采样开关电路还包括:
第一浮置电池结构,用于时钟高电位时,降低所述采样开关管的栅极电位。
4.根据权利要求3所述的模拟采样开关,其特征在于,所述第一浮置电池结构包括:
第四PMOS晶体管和第一电容;
所述第四PMOS晶体管的栅极接电源,所述第四PMOS晶体管的源极接由时钟自举电路产生的外加信号;
所述第一电容的负极接所述第二PMOS晶体管的漏极,所述第一电容的正极与所述第四PMOS晶体管的漏极相连,作为浮置电池。
5.根据权利要求4所述的模拟采样开关,其特征在于,所述采样开关电路还包括:
源极电压控制电路,用于将所述采样开关管的源极电压信号接至其栅极,实现所述采样开关管栅源电压的恒定。
6.根据权利要求5所述的模拟采样开关,其特征在于,所述源极电压控制电路包括:
第五NMOS晶体管、第六PMOS晶体管、第七PMOS晶体管、第八NMOS晶体管、第九NMOS晶体管和第二电容;
所述第六PMOS晶体管的源极接电源,所述第六PMOS晶体管的栅极接时钟信号,所述第二电容的正极与所述第六PMOS晶体管的漏极连接,所述第二电容的负极与所述第九NMOS晶体管的漏极相连,所述第九NMOS晶体管的栅极接时钟反信号,所述第九NMOS晶体管的源极接参考地,构成第二浮置电池结构;
所述第七PMOS晶体管的源极与所述第八NMOS晶体管的漏极相连,所述第七PMOS晶体管的漏极与所述第八NMOS晶体管的源极相连,所述第七PMOS晶体管的栅极接时钟信号,所述第八NMOS晶体管的栅极接时钟反信号,构成传输门结构;
所述第五NMOS晶体管的源极与所述第一电容的正极相连,所述第五NMOS晶体管的栅极与所述第二电容的正极相连,所述第一PMOS晶体管的衬底端与所述第五NMOS晶体管的漏极连接,在时钟高电位时将源极信号传输至所述采样开关管的栅极。
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