[发明专利]一种烧结钕铁硼永磁体在工作温度下拐点位置的检测方法无效
申请号: | 200810228239.9 | 申请日: | 2008-10-23 |
公开(公告)号: | CN101393166A | 公开(公告)日: | 2009-03-25 |
发明(设计)人: | 唐任远;孙宁;陈丽香;刘超 | 申请(专利权)人: | 沈阳工业大学 |
主分类号: | G01N27/72 | 分类号: | G01N27/72 |
代理公司: | 沈阳东大专利代理有限公司 | 代理人: | 梁 焱 |
地址: | 110178辽宁省沈阳*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 烧结 钕铁硼 永磁体 工作温度 拐点 位置 检测 方法 | ||
1.一种烧结钕铁硼永磁体在工作温度下拐点位置的检测方法,其特征在于按如下步骤进 行:A、计算出烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的磁性能,其中工作温度的范围为120℃~180 ℃;B、根据设定的烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的拐点,及计算得到的烧结钕铁硼永磁体 在工作温度下的磁性能,计算烧结钕铁硼永磁体的工作点,计算方法采用有限元法,该有限 元法使用ANSOFT公司的Maxwell 2D软件计算,通过改变硅钢片数量改变烧结钕铁硼永磁体 的工作点,以保证烧结钕铁硼永磁体的工作点略高于用户要求的拐点,从而得到硅钢片的垫 放方法和数量;C、测量烧结钕铁硼永磁体常温下的表面磁密,选择至少一个位置进行测量, 并对测量位置进行标记;D、将烧结钕铁硼永磁体放在高温箱内加热至试验温度,试验温度和 硅钢片的垫放方法及数量,都与有限元软件计算时相同,试验样品在工作温度下暴露的持续 时间从高温箱指示的温度达到稳定时算起,试验持续时间为2小时;E、试验结束后,测量烧 结钕铁硼永磁体在常温下的磁性能,测量时的温度和测量位置应与试验前一致,比较试验前 后的测量数据,判断烧结钕铁硼永磁体是否发生退磁,如果退磁说明烧结钕铁硼永磁体的实 际拐点高于试验时的工作点;反之烧结钕铁硼永磁体的实际拐点低于试验时的工作点,满足 用户要求;F、根据试验结果调节硅钢片数量,重复试验得到烧结钕铁硼永磁体在工作温度下 的拐点所处的范围;
所用的计算烧结钕铁硼永磁体在工作温度下的磁性能的计算公式为:Brt1=Brt0[1-αBr(t1-t0)]其中Brt1代表工作温度在t1时的剩余磁通密度;Brt0代表室温t0时的剩余磁通密度; t1代表工作温度;t0代表室温;αBr代表剩余磁通密度温度系数,在公式中αBr取值-0.12%/K, %/K是单位,其中K是热力学单位开尔文;
测量烧结钕铁硼永磁体常温下的表面磁密,烧结钕铁硼永磁体的中心位置必须测量;
烧结钕铁硼永磁体放在高温箱内加热至试验温度时,应保证同一硅钢片上只能有一块烧 结钕铁硼永磁体进行试验。
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