[发明专利]光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法

说明书

技术领域：

本发明涉及一种光盘刻录机或播放器光学头性能的测量方法，尤其是一种 操作简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的光学头聚焦误差信号线性度 的自动测量方法。

背景技术：

光学头聚焦误差信号(FE)是由伺服信号经过聚焦误差信号生成单元，再 经过生成参数(1-balance、1+balance)调整而形成，通过变化调整生成参数可 使光学头的聚焦点沿聚焦误差信号(FE)的S字形移动。S字的线性度既光学 头聚焦误差信号的线性度，是一个重要的性能指标，如线性度差就会影响光学 头聚焦伺服的稳定性，通常用KINK值来表示，以“1”为基准，KINK值大则 说明聚焦误差信号(FE)的线性度差。目前，对于光学头KINK值的测量均使 用目测方法，即通过观察示波器上测得的光学头聚焦误差信号(FE)的图形来 判断。此方法操作复杂、劳动强度高、效率低，因此在实际生产中并不能对光 学头进行全数检查。即便这样还存在着检测结果受人为因素影响大、精确度低 等问题，直接影响了产品的可靠性。

发明内容：

本发明是为了解决现有技术所存在的操作复杂、劳动强度高、效率及精确 度低等技术问题，提供一种操作简单、结果准确、劳动强度低、检测效率高的 光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方法。

本发明的技术解决方案是：一种光学头聚焦误差信号线性度的自动测量方 法，其特征在于是用计算机依次进行如下步骤：

a.使光学头处于聚焦状态；

b.调整聚焦误差信号生成参数，在聚焦误差信号S字线性区确定至少 2n+1个等距的聚焦点，n为不等于零的正整数，2n+1个等距的聚焦点上下均匀 分布，当n＝1时，两端的聚焦点不是最高或最低点；

c.在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，根据聚焦增益自动调整 值及增益调整值与聚焦误差信号S字线性区斜率的对应关系，计算每个聚焦点 焦点的斜率值；

e.计算聚焦点斜率的最大值与最小值之间的比值，即得到线性度指标。

本发明是用计算机进行操作，在聚焦误差信号S字线性区确定至少3个等 距的聚焦点，在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，通过计算每个聚焦 点的斜率值，并将聚焦点斜率的最大值与最小值相比，其比值即光学头聚焦误 差信号线性度，可在1～2秒钟内完成线性度的自动测量，具有操作简单、结果 准确、劳动强度低及检测效率高等优点。

附图说明：

图1是本发明实施例的流程图。

图2是本发明实施例确定聚焦点的示意图。

具体实施方式：

下面将结合附图说明本发明的具体实施方式。如图1所示：具体操作步骤 如下：

a.通过聚焦伺服控制，使光学头处于聚焦状态；

b.调整聚焦误差信号生成参数balance，使光学头的聚焦点在聚焦误差信 号S字线性区移动，如图2所示确定至少2n+1个等距的聚焦点(n＝1、2、3……)， 2n+1个等距的聚焦点应上下均匀分布，且当n＝1时，两端的聚焦点不应是最高 或最低点；

c.按照现有技术在每个聚焦点上分别进行聚焦增益自动调整，即使聚焦伺 服系统经数字PID校正后的幅频特性曲线的截止频率ωc满足设计值；测量前 应通过实验，列出自动增益调整值与聚焦误差信号S字线性区斜率的对应关系， 并将对应关系存储于计算机中；测量时根据每个聚焦点自动增益调整值与聚焦 误差信号S字线性区斜率的对应关系，即可计算出每个聚焦点的斜率值并将所 得到的斜率值进行存储；

d.找出聚焦点斜率的最大值及最小值，计算聚焦点斜率的最大值与最小值 之间的比值，即得到线性度指标。