[发明专利]一种施加预载≤10N下轴承凸出量的测量方法及装置

说明书

技术领域

本发明属于轴承检测技术领域，特别涉及到一种施加预载≤10N下轴承凸出量的测量方法及装置。

背景技术

成对轴承通过施加预载荷，可以大大提高轴承的刚度和使用寿命，提高系统的稳定性和旋转精度，因此广泛应用于精密机床主轴、高速电主轴等高精度轴系。

成对使用的轴承一般采用角接触球轴承，凸出量的大小直接影响到成对轴承的预载大小，从而影响到轴系的旋转精度、刚度、振动、噪音等，因此有专门测试轴承凸出量的仪器。该仪器通常采用气动方式，要求使用场所有足够压力的气源，然而这种仪器只适合测量不小于20N的预载下轴承的凸出量，而不能测量≤10N预载荷下的轴承凸出量，尤其不适用测量微型或薄壁轴承凸出量。截至目前还未见到相关报道。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供了一种施加预载≤10N下轴承凸出量的测量方法及装置，该测量方法及装置不需要任何电、气等动力源，通过将不同重量的负荷块直接加在轴承上，以负荷块的重量为载荷对轴承加载，通过与标准块对比测量，可测出轴承凸出量值。

为了实现上述发明目的，本发明采用了如下技术方案：

一种施加预载≤10N下轴承凸出量的测量方法，实施所述测量方法的装置主要由底座(6)、引导套筒(4)、负荷块(2)、标准块(8)构成，其中底座(6)放在磁力表架(7)的平台(7.1)上，引导套筒(4)由螺钉(5)紧固在底座(6)上，在引导套筒(4)内可装入标准块(8)或待测轴承(3)，标准块(8)或待测轴承(3)上配置负荷块(2)，磁力表架(7)支撑臂(7.2)上安装的千分表(1)测头指在负荷块(2)的顶尖孔中；标准块的外形尺寸与待测轴承的外形尺寸相同，负荷块的重量与待测轴承的设计预载荷一致，标准块的外径或待测轴承的外径与引导套筒的内径滑配，该测量方法采用比较法，测量步骤如下：

I、将千分表装在磁力表架的支撑臂上，引导套筒放在底座上，在引导套筒内放入标准块，当标准块外径露出引导套筒一半左右时，拧紧引导套筒上的螺钉使其紧固在底座上；

II、将紧固后的底座放在磁力表架的平台上，压上负荷块，使千分表上的测头指在负荷块的顶尖孔中，再将表调零；

III、取下标准块和负荷块，换上待测轴承，再压上负荷块，同样使千分表上的测头指在负荷块的顶尖孔中，记录下千分表上示值与零位的差值，若千分表指针在零位左面，差值前记为“正号”，若千分表指针在零位右面，则差值前记为“负号”；

IV、若需测量待测轴承与负荷块接触端的凸出量，先测出标准块的实际高度偏差和该待测轴承外圈的实际高度偏差，再由下式计算得出：

T＝C+ΔB_外-ΔB_标

式中：C——测量时所记录的千分表所示差值

ΔB_外——轴承外圈的实际高度偏差值

ΔB_标——标准块的实际高度偏差值

T——待测轴承凸出量

计算后T值为正，表示外圈比内圈高；计算后T值为负，表示外圈比内圈低；

V、若需测量待测轴承与负荷块接触端相对面的凸出量，先测出标准块的实际高度偏差和该套轴承内圈的实际高度偏差，再由下式计算得出：

T＝C+ΔB_内-ΔB_标

式中：C——测量时所记录的千分表所示差值

ΔB_内——轴承内圈的实际高度偏差值

ΔB_标——标准块的实际高度偏差值

T——待测轴承凸出量

计算后T值为正，表示内圈比外圈高；计算后T值为负，表示内圈比外圈低。

由于采用了如上所述的技术方案，本发明具有如下优越性：

1、测量装置结构简单，易于保证其加工精度；

2、测量方法操作简便，无需专门培训；

3、测量装置不需额外准备电、气等动力源；

4、可根据需要改变负荷块或标准块的体积和重量，以方便测量待测轴承在不大于10N预载下的凸出量值；

5、本发明适用面广，适用于薄壁及其他尺寸系列的轴承，亦可用于角接触球轴承和深沟球轴承。

附图说明

图1是本发明的测量装置结构示意图； 

图2是标准块结构示意图；

上述图中：1-千分表；2-负荷块；3-待测轴承；4-引导套筒；5-螺钉；6-底座；7-磁力表架；7.1-平台；7.2-支撑臂；8-标准块。

具体实施方式