[发明专利]电磁加热装置无效

专利信息
申请号: 200810232210.8 申请日: 2008-11-10
公开(公告)号: CN101404834A 公开(公告)日: 2009-04-08
发明(设计)人: 郝跃;李志明;张进诚;白俊春 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H05B6/02 分类号: H05B6/02;H05B6/36
代理公司: 陕西电子工业专利中心 代理人: 王品华;黎汉华
地址: 71007*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 电磁 加热 装置
【说明书】:

技术领域

本发明属于微电子技术领域,特别是涉及一种用于制备半导体薄膜的加热装置。

技术背景

现今制备半导体薄膜的电磁加热式MOCVD,采用将衬底放置在石墨基座上,线 圈绕于反应室器壁之外,石墨基座由于电磁感应产生的热经热传导至衬底,使反应气 体在加热的衬底上发生化学反应,反应产物在衬底上淀积生长成半导体薄膜,衬底温 度分布的均匀性直接关系到薄膜的厚度均匀性和质量,因而这种设备对衬底温度的均 匀性要求很高。但由于集肤效应的存在,使得基座及衬底表面的温度分布很不均匀, 边缘附近高而中间附近低,从而影响了薄膜的质量。目前国内外对这方面的研究还很 少,相关的研究主要有以下三种:

罗小兵、詹少彬、徐天明等人采用特殊的线圈空间分布,这种结构虽可以获得较 均匀的衬底表面温度分布,但对线圈的空间布置要求极高,参见文献罗小兵、詹少 彬、徐天明等“MOCVD加热方式对比研究”,第十届全国MOCVD学术会议论文集 pp.114-118。

Berkman et al.设计的加热器,该加热器包括一个空心截断金字塔形的常规石墨基 座,多个衬底片放在中空的锥体的表面,即热盾上,能一次同时对多个衬底片加热, 但由于锥面的倾斜,会使得各衬底片由上到下的温度分布不一,参见US Patent 3980854-Graphite susceptor structure for inductively heating semiconductor wafers US Patent Issued on September 14,1976。

吕惠宾、周岳亮、崔大复等人提出的直接将石墨制成长方体条或圆管形加热器, 然后在两端引入电极,通入电流而使加热器加热,参见专利号94246584.9。这种加热 装置,虽能使表面加热均匀,但由于电极将加热器与电源联为一体,使得加热器在旋 转方面受到制约。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电磁加热装置,以克服感应加热物体由于集肤效应使 得发热体表面的温度分布不均匀性,且不易操作和控制的问题,保证发热体的正常旋 转,提高薄膜的质量。

为实现上述目的,本发明的电磁加热装置包括:发热体和线圈,线圈缠绕在发热 体的外部,其中发热体上开有环形槽(6),以改变发热体的热传导方向。

所述的发热体由上发热体和下发热体两部分组合而成,且上发热体的高度小于下 发热体的高度。

所述的环形槽的位置位于下发热体的上端面,该环形槽根据发热体的直径大小设 为一个或多个。

所述的环形槽(6)的形状为矩形旋转体形槽,或梯形旋转体形槽,或三角形旋 转体形槽。

本发明由于采用在发热体上开有环形槽的结构,使发热体因感应产生的热量主要 分成两部分,一部分位于槽的上方的上发热体侧面边缘附近,其中的热量可直接对发 热体上表面的边缘附近进行加热;另一部分位于下发热体槽的下方侧面边缘附近,其 中的热量由于槽的阻断改变传导方向,即绕过槽而传至发热体的中心附近,提高了发 热体上表面温度分布的均匀性,使被加热衬底受热更均匀,提高了淀积薄膜的质量。 仿真结构表明,衬底温度分布标准差由开槽前的21℃降到1.7℃。

附图说明

图1是本发明的整体结构的轴截面示意图;

图2a是本发明发热体的内部结构轴截面示意图;

图2b是本发明发热体上的环形槽分布示意图;

图3a是本发明发热体上的矩形旋转体形槽示意图;

图3b是本发明发热体上的梯形旋转体形槽示意图;

图3c是本发明发热体上的三角形旋转体形槽示意图;

图4是本发明发热体开有5个槽的结构示意图;

图5是本发明的仿真结果图。

具体实施方式

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