[发明专利]光电半导体银铜复合氧化物薄膜材料无效

专利信息
申请号: 200810233476.4 申请日: 2008-10-24
公开(公告)号: CN101383384A 公开(公告)日: 2009-03-11
发明(设计)人: 冯晶;陈敬超;肖冰;于杰;杜晔平;周荣;武淑珍 申请(专利权)人: 昆明理工大学
主分类号: H01L31/032 分类号: H01L31/032;H01L31/18;C01G3/02;C01G5/00
代理公司: 昆明今威专利代理有限公司 代理人: 赛晓刚
地址: 650093云南省昆明市*** 国省代码: 云南;53
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摘要:
搜索关键词: 光电 半导体 复合 氧化物 薄膜 材料
【权利要求书】:

1.一种光电半导体银铜复合氧化物薄膜材料,其特征在于含有以下成分:银粉、铜粉、添加元素,或银铜合金粉末和添加元素,其中粉末粒度小于45微米,铜元素占总重量的30-40%,余量为银和添加元素,薄膜中主要化合物为AgCuO2,并含有少量Ag2Cu2O3

2、根据权利要求1所述的光电半导体银铜复合氧化物薄膜材料,其特征在于所述的添加元素为Al,P,S,V,Mn,Co,Ni,Zn,Ga,Ge,As,Se,Nb,Mo,In,Sb中的一种或几种,添加元素可在制粉和熔炼过程中进行,根据光电材料要求不同,添加元素的质量分数为0.25-2.0%,粒度小于45微米。

3、一种光电半导体银铜复合氧化物薄膜材料的制备方法,其特征在于工艺流程如下:

A、原料经配料后在混料机中混合均匀,经过冷压成形后成为素坯;

B、素坯成形采用钢模双向在400MPa-800MPa压制,或在100MPa-300MPa冷等静压成形,或二者相结合;

C、靶材送入烧结炉中进行氧化烧结;

D、在电脉冲沉积或磁控溅射沉积或在气氛炉内喷雾氧化沉积,得到银铜复合氧化物薄膜,并进一步氧化处理。

4、根据权利要求3所述光电半导体银铜复合氧化物薄膜材料的制备方法,其特征在于所述的在电脉冲沉积或磁控溅射沉积是指:采用玻璃衬底,抽真空,真空度为10-5-10-2Pa,溅射或沉积速率为10-2g/s,时间为30-200分钟。

5、根据权利要求3所述光电半导体银铜复合氧化物薄膜材料的制备方法,其特征在于所述的烧结温度600-750℃,时间3-8小时。

6、一种光电半导体银铜复合氧化物薄膜材料,其特征在于应用于太阳能材料、太空电池帆板材料、高能量光子吸收、其它光电领域或半导体领域。

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