[发明专利]一种chip元件避让单开型壶口无效
申请号: | 200810234208.4 | 申请日: | 2008-11-25 |
公开(公告)号: | CN101765309A | 公开(公告)日: | 2010-06-30 |
发明(设计)人: | 庄春明 | 申请(专利权)人: | 苏州明富自动化设备有限公司 |
主分类号: | H05K3/34 | 分类号: | H05K3/34 |
代理公司: | 南京众联专利代理有限公司 32206 | 代理人: | 赵枫 |
地址: | 215122 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 chip 元件 避让 单开型壶口 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于PCBA板焊锡的锡炉部件,尤其是一种用于焊接电脑主板chip元件的锡炉壶口。
背景技术
通常的波峰焊通常采用手工操作,生产效率比较低,对于需焊接点较为密集的PCBA板,这种焊接方式更显不足,另外,由于出锡口过小(一般长2毫米),会带来锡渣对壶口的堵塞,从而导致虚焊的大面积产生;针对焊接点较为密集的PCBA板,也有采用壶口结构,但通常的锡炉壶口为平口的设计,为了实现对PCBA板的焊锡操作,一般需在PCBA板和壶口之间保持一次的距离,一方面保证使从壶口喷出的锡液可以对上方的PCBA板上的电器元件进行焊接,同时保证随后从壶口喷出的锡液可以及时排出壶口,防止壶口压力过大,影响焊接质量,但这种结构还存在结构缺陷:当锡液从壶口喷出时,由于最上表面的锡液由于直接与空气接触形成氧化层,这部分氧化层随着锡液从壶口涌出,首先与上方的PCBA板接触,在后方锡液的正面冲击下,使这部分氧化层被压迫在PCBA板面上,不易由随后涌出壶口锡液将其带走,使得氧化层残留在焊点和PCBA板之间,严重影响焊接质量。
发明内容
为了克服上述各种焊锡存在的不足,尤其是采用自动选择性点对点波峰焊对焊点密集的PCBA板进行焊接时,工作效率低,不适于大规模批量加工,且接点易形成虚焊的不足,本发明提供了一种结构简单,可以有效提高焊接效率,保证焊接接点的质量的锡炉壶口。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种chip元件避让单开型壶口,所述壶口形状为矩形,在矩形边的一侧面边缘设置有溢锡口,在矩形边的另一侧面设置有内凹槽。溢锡口用于溢锡,而内凹槽用于容纳chip元件。这种结构主要用于长的单排引线的焊接。
为了便于溢锡口的加工,同时确保锡液可以均匀地溢锡口流出,进一步地:所述溢锡口为一矩形豁口。
为了合理设置溢锡口的深度,过浅可能起来到溢锡口应有溢锡效果,过深可能导致锡液在冒出壶口前就从溢锡口流出,使锡波冒出壶口的高度偏低,影响焊接质量,再进一步地:所述溢锡口的深度为3~4mm。
为了避免内凹槽的折角在壶口位置调整过程中碰伤其它位于壶口内部的chip元件,再进一步地:所述内凹槽的底部为半圆弧面。另外,半圆弧面的也便于壶口在加工过程中冲压成型。
溢锡口的存在,可以有效改变锡液在喷出壶口后的流向。当锡液从壶口喷出后,锡液会优先从溢锡口流出,这样就形成一定流向的锡流,使得最上层的氧化层不会被直接冲击吸附到PCBA板上,即使有部分氧化层吸附到PCBA板上,也会被随后从壶口喷出的锡液冲刷掉,保证了在焊锡和PCBA板之间不会残留氧化层影响锡焊质量;另一方面,由于表面张力,壶口中的锡液上表面呈球面形状,使得在炉内压力不高的情况下,可能出现在壶口边缘处形成虚焊,影响焊接质量,溢锡口的存在,改变了壶口锡液的流向,使锡液可以最大可能覆盖壶口上方的PCBA板,确保焊接的充分性和牢固性。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1是本发明壶口结构示意图。
图2是本发明在PCBA板上的放置位置示意图。
图中1.溢锡口 2.内凹槽 3.电子元器件 4.chip元件 5.PCBA板
具体实施方式
如图1所示的一种chip元件避让单开型壶口,所述壶口形状为矩形,在矩形边的一侧面边缘设置有溢锡口1,在矩形边的另一侧面设置有内凹槽2。所述溢锡口1为一矩形豁口,其深度为3~4mm,内凹槽2的底部为半圆弧面
如图2所示,本发明所述的壶口主要应用于短的单排引线的电子元器件3的焊接,图中的剖面线部分表示溢锡口。在该PCBA板5上,单排引线的外侧无其它电子元器件3或是离得相对较远,以使从溢锡口1流出的锡液不会流淌到该电子元器件3上。chip元件位于内凹槽2内。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州明富自动化设备有限公司,未经苏州明富自动化设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810234208.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:发光二极管承载片及其电性测试平台
- 下一篇:吸取IC组件的方法