[发明专利]硬币综合特性参数复合测定法及测定仪有效
申请号: | 200810234306.8 | 申请日: | 2008-11-11 |
公开(公告)号: | CN101414390A | 公开(公告)日: | 2009-04-22 |
发明(设计)人: | 张军;郭坚毅;徐峰;张勃;龚士良;周建栋;李发强 | 申请(专利权)人: | 中国印钞造币总公司;上海造币有限公司 |
主分类号: | G07D5/00 | 分类号: | G07D5/00 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 | 代理人: | 何朝旭 |
地址: | 100044北京市西城*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硬币 综合 特性 参数 复合 测定法 测定 | ||
1.一种硬币综合特性参数复合测定法,其特征在于包括以下步骤:
信号发生步骤:两路振荡电路分别在不同时刻产生至少四个可变频率的激励振荡信号,输送到各自的涡流传感电路;
涡流传感步骤:两涡流传感电路产生的交流检测信号分别输出到两整形放大电路,同时检测信号之一还输出到整流滤波电路;
整形放大步骤:两整形放大电路分别将输入的交流检测信号整形为方波信号,并放大输出到频率测量电路;
整流滤波步骤:整流滤波电路将输入的交流检测信号整流为直流信号,输出到幅度测量电路;
频率测量步骤:频率测量电路将两路输入的方波信号分别测量后与空载预置参数进行频率比较,并将比较结果输出到处理识别电路;
幅度测量步骤:幅度测量电路将输入的直流信号与空载预置参数进行幅值比较,并将比较结果输出到处理识别电路;
处理识别步骤:处理识别电路根据频率测量和幅度测量的比较结果,识别硬币的真假。
2.根据权利要求1所述的硬币综合特性参数复合测定法,其特征在于所述处理识别步骤中包括:
预置补偿步骤:预置补偿电路以预定时间间隔输入的空载检测参数刷新空载预置参数;所述预置补偿步骤中,根据来自过币检测电路的信号判断是否空载。
3.根据权利要求2所述的硬币综合特性参数复合测定法,其特征在于:所述预置补偿步骤中记录一组连续的空载检测参数,去除最大和最小的值,以剩余参数的算术平均值刷新空载预置参数。
4.一种硬币综合特性参数复合测定仪,其特征在于包括:
信号发生电路:含有两路振荡电路,用以在不同时刻产生至少四个可变频率的激励振荡信号,输送到各自的涡流传感电路;
涡流传感电路:含有两路涡流传感电路,用以产生交流检测信号分别输出到两整形放大电路,同时检测信号之一还输出到整流滤波电路;
整形放大电路:含有两路整形放大电路,用以分别将输入的交流检测信号整形为方波信号,并放大输出到频率测量电路;
整流滤波电路:用以将输入的交流检测信号整流为直流信号,输出到幅度测量电路;
频率测量电路:用以将两路输入的方波信号分别与空载预置参数进行频率比较,并将比较结果输出到处理识别电路;
幅度测量电路:用以将输入的直流信号与空载预置参数进行幅值比较,并将比较结果输出到处理识别电路;
处理识别电路:用以根据频率测量和幅度测量的比较结果,识别硬币的真假。
5.根据权利要求4所述的硬币综合特性参数复合测定仪,其特征在于:所述处理识别电路中含有预置补偿电路,用于以预定时间间隔输入的空载检测参数刷新空载预置参数。
6.根据权利要求5所述的硬币综合特性参数复合测定仪,其特征在于:所述处理识别电路主要由带A/D转换的MCU芯片构成,所述频率测量电路主要由CPLD芯片构成,所述幅度测量电路包含在所述MCU芯片中。
7.根据权利要求6所述的硬币综合特性参数复合测定仪,其特征在于:所述信号发生电路含有光电发射和接收器件构成的过币检测电路,所述光电发射和接收器件安置在硬币通道中。
8.根据权利要求7所述的硬币综合特性参数复合测定仪,其特征在于:所述振荡电路与对应的涡流传感电路含有共用电感线圈。
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