[发明专利]光纤色散测量仪

说明书

技术领域

本发明涉及光纤测量领域，具体涉及一种光纤色散测量仪。

背景技术

由于光纤色散是描述光纤材料特性的一个十分重要的物理量，尤其是超短脉冲激光在光纤中的产生、放大以及传输的特性，光波在光纤通讯器件中信息传递的品质等，都在很大程度上受光纤色散量的影响和制约，所以对光纤色散的准确测量是对光纤激光器件及通信器件设计的重要依据。目前各工业实验室和研究机构使用的光纤色散测量方法主要有时延法、相移法、模场直径法和干涉法。时延法的使用需要待测光纤长度很长，一般须超过0.5km，且测量精度低，时间分辨率仅50ps；相移法需要高信噪比、高调节精度的可调谐光源，造成测量成本太高；模场直径法需要单独测量出光纤的材料色散值才能间接得出其总色散量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光纤色散测量仪，其解决了背景技术中的测量精度低、测量成本高的技术问题。

本发明的技术方案是：

一种光纤色散测量仪，该仪器包括：宽带光源输入端口1，设置于宽带光源输入端口1输出端的光纤耦合器2；设置于光纤耦合器2输出端经光纤201连接的准直器3；设置于准直器3出口端沿光路依次设置的第一反射镜401、第二反射镜402、第三反射镜403、第四反射镜404、第十反射镜410、第五反射镜405、第六反射镜406；设置于第三反射镜403与第四反射镜404的下端的电动平移台5以电动平移台控制端口501；该仪器还包括设置于光纤耦合器2发生干涉后的输出端经光纤连接的干涉光输出端口9；以及显微物镜6、第十二反射镜412；其特征在于：所述第六反射镜406的反射光路上依次还设置有第十一反射镜411、第七反射镜407、第八反射镜408、第九反射镜409；所述光纤耦合器2的输出端设置有第一光纤适配器701，所述光纤耦合器2输出端与光纤适配器701之间还设置有偏振控制器8，所述第十二反射镜412的输出端设置有光纤适配器702。

上述第六反射镜406的沿反射光路依次还设置有第十一反射镜411、第七反射镜407、第八反射镜408、第九反射镜409；

上述光纤耦合器2输出端与光纤适配器701之间还设置有偏振控制器8。

上述第三反射镜403、第四反射镜404、第十反射镜410以及第十一反射镜411为移动式反射镜。

上述宽带光源输入端口1为标准的FC/PC可插拔式光纤接口。

本发明的优点在于：

采用光纤色散测量仪以及干涉法测量色散的时间分辨率高达0.1ps，光路为全光纤结构，只需要短光纤即可满足测量要求；其测量方法简单、快捷、廉价、检测效率也比较高；光纤色散测量仪器的结构也比较简单。

附图说明：

图1为本发明色散测量装置的结构示意图。

附图标记：

1-宽带光源；2-光纤耦合器；3-光纤准直器；4-反射装置，401-第一反射镜，402-第二反射镜，403-第三反射镜，404-第四反射镜，405-第五反射镜，406-第六反射镜，407-第七反射镜，408-第八反射镜，409-第九反射镜，410-第十反射镜，411-第十一反射镜，412-第十二反射镜；5-平移台；6-显微物镜；7-光纤调整架；8-偏振控制器；9-干涉光输出端口；10-待测光纤。

具体实施方式：

参见图1

一种光纤色散测量仪，该仪器包括：宽带光源输入端口1，宽带光源输入端口1为标准的FC/PC可插拔式光纤接口。设置于宽带光源输入端口1输出端的光纤耦合器2；设置于光纤耦合器2输出端经光纤201连接的准直器3；设置于准直器3出口端沿光路依次设置的第一反射镜401、第二反射镜402、第三反射镜403、第四反射镜404、第十反射镜410、第五反射镜405、第六反射镜406；第六反射镜406的沿反射光路依次次还设置有第十一反射镜411、第七反射镜407、第八反射镜408、第九反射镜409；设置于光纤耦合器2输出端经光纤顺次连接的光纤适配器701、光纤适配器702、显微物镜6以及第十二反射镜412，光纤耦合器2输出端与光纤适配器701之间还设置有偏振控制器8；设置于第三反射镜403与第四反射镜404的下端的电动平移台5以及电动平移台控制端口501；第三反射镜403、第四反射镜404、第十反射镜410以及第十一反射镜411为移动式反射镜；该仪器还包括设置于光纤耦合器2发生干涉后的输出端经光纤连接的干涉光输出端口9。

工作原理如下：

(i)、通过宽带光源的输入端口1输入光源，将输出的宽带光源由经光纤101接入光纤耦合器2中。