[发明专利]颗粒粒度测试样品池

说明书

(一)技术领域

本发明涉及一种颗粒粒度测试设备配件，具体地说是一种颗粒粒度测试样品池。

(二)背景技术

目前激光粒度仪对粉体材料进行测试时，通常使用的样品池截面为狭窄的条带形，长宽比在3以上，样品在样品池内呈薄片状，光束从大的工作面垂直入射，只适用于前向散射的测量，因此测量范围在0.3微米以上。

(三)发明内容

本发明的技术任务是针对现有技术的不足，提供一种测试散射角大，精度高的颗粒粒度测试样品池。可有效解决全方位散射光的探测问题，使测试最大散射角超过135度，且无死角。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

颗粒粒度测试样品池，包括能透光的样品池体，样品池体为中空结构，其横截面为边数不小于四的偶数多边形，且至少有一组对边平行的工作面，在池体的工作面上至少附设有一个凸透镜。

上述颗粒粒度测试样品池，其偶数个的凸透镜对称设置在平行的工作面上。

上述颗粒粒度测试样品池，其样品池体的横截面为矩形或平行四边形。

上述颗粒粒度测试样品池，其样品池体的横截面为六边形。

上述颗粒粒度测试样品池，其样品池体为流动池。

上述颗粒粒度测试样品池，其样品池体为带有封底的容器。

上述颗粒粒度测试样品池，其凸透镜为球面透镜或柱面透镜。

上述颗粒粒度测试样品池，其样品池体用光学玻璃或石英玻璃制成。

上述颗粒粒度测试样品池，其样品池体用金属材料制成，其侧壁上开有通光孔。

使用时，在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器，经扩束汇聚的激光束从无透镜的平面入射样品池，颗粒的前向散射信息由通常的半圆环探测器检测，颗粒的侧向散射与后向散射信息由条带状阵列探测器检测，由此获得全方位颗粒散射的信息。

本发明的颗粒粒度测试样品池与现有技术相比，所产生的有益效果是：

(1)样品池的结构有利于检测0-135度的散射信息，且无死角，因此激光粒度仪的测试下限可以扩展至理论极限，可大大提高激光粒度仪的分析精度。

(2)该测试样品池的使用可使仪器体积大大缩小。

(3)样品池横截面积比通常样品池扩大10倍以上，且管道横截面大，提高了样品流量，利于在线粒度测试。

(四)附图说明

附图1为本发明第一个实施例的结构示意图；

附图2为本发明第二个实施例的结构示意图；

附图3为本发明第三个实施例的结构示意图。

(五)具体实施方式

下面结合附图1—3对本发明的颗粒粒度测试样品池作以下详细地说明。

实施例1：

如附图1所示，本发明的颗粒粒度测试样品池，其结构包括用光学玻璃制成的侧壁透明的样品池体C，壁厚约1毫米左右，边长在10-30mm，样品池体C是流动池，其横截面为正方形，在池体1的对称工作面上胶合有两个凸透镜L1、L2。使用时，在凸透镜焦平面设有条形阵列光电探测器，经扩束汇聚的激光束从无透镜的平面入射样品池，颗粒的前向散射信息由通常的半圆环探测器检测，颗粒的侧向散射与后向散射信息由位于透镜焦平面的条带状阵列探测器检测，由此获得全方位颗粒散射的信息。

实施例2：

如附图2所示，本发明的颗粒粒度测试样品池，其结构包括用金属材料制成的样品池体C，样品池体C的壁厚约1毫米左右，边长在10-30mm，样品池体C是封底的容器，其横截面为平行四边形，在池体1的对称工作面上胶合有两个凸透镜L1、L2。在安装凸透镜L1、L2的样品池体C的侧壁上和汇聚激光束入射的侧壁上分别开设有通光孔K1、K2，使用时，含颗粒样品悬浮液流过样品池体C，经过处理的汇聚激光束入射样品池体C，侧向散射光与后向散射光分别被凸透镜L1、L2汇聚在条形阵列探测器上，前向散射光被主探测器接收，总接受角度在0-135度以上，接收角度内无死角，散射光的角度分布通过计算机反演得到颗粒的粒度分布。

实施例3：

如附图3所示，本发明的颗粒粒度测试样品池，其结构包括用石英玻璃制成的侧壁透明的样品池体C，壁厚约1毫米左右，边长在10-30mm，样品池体C是流动池，其横截面为六边形，在池体1的对称工作面上胶合有两个凸透镜L1、L2。使用时，含颗粒样品悬浮液流过样品池体C，经过处理的汇聚激光束入射样品池体C，侧向散射光与后向散射光分别被凸透镜L1、L2汇聚在条形阵列探测器上，前向散射光被半圆环阵列主探测器接收，由此获得全方位颗粒散射的信息。