[发明专利]基于Bayes规则的误码率测试系统有效

专利信息
申请号: 200810238983.7 申请日: 2008-12-08
公开(公告)号: CN101435329A 公开(公告)日: 2009-05-20
发明(设计)人: 张春熹;高爽;王蕊;林恒;林铁;王基亮 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: E21B47/02 分类号: E21B47/02
代理公司: 北京永创新实专利事务所 代理人: 周长琪
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 基于 bayes 规则 误码率 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种基于Bayes规则的误码率测试系统,该误码率测试系统内嵌在FPGA处理 器芯片中,其特征在于:由时钟单元、m序列发生器、输出信息单元、接收信息 单元、序列同步及门限检测单元、误码统计单元、误码率估算单元、位同步时钟 提取单元、本地m序列发生器组成;

时钟单元用于产生m序列所需的时钟信号(211);

m序列发生器用于产生m序列(212);

输出信息单元用于将接收的m序列(212)进行编码后输出带有编码信息的m 序列(213),并经光/电缆送入井下探管(10);所述的带有编码信息的m序列(213) 的传输格式为,每帧44字节,每字节11位;每字节的第1位为起始位,第2-5位 为标识位,第6-9位为数据位,第10位为校验位,第11位为停止位;每帧前2个 字节的数据位负责发送误码率测试命令字,协议中定义为‘1000_0000’;每帧后 42个字节的数据位负责发送发端产生的m序列,每帧可发送168位m序列;

接收信息单元用于接收井下探管经光/电缆传回的含有误码的m序列(221), 并对含误码m序列(221)进行解码处理,获得解m序列(222);该解码采用与编 码相逆方式,即将每帧后42个字节的数据位上的共168位m序列码元依次读出, 并保存为解m序列(222);

位同步时钟提取单元用于把隐藏在解m序列(222)中的码元时钟(225)恢 复出来,该码元时钟(225)作为本地m序列发生器生成基准m序列(226)的时 钟信号;

本地m序列发生器用于产生与解m序列(222)同频同相的基准m序列(226) 给误码统计单元;

序列同步及门限检测单元对接收的解m序列(222)与基准m序列(226)进 行数据流同步和同步保护后输出同步后的解m序列(223)和同步后的基准m序列 (227);

误码统计单元用于对接收的同步后解m序列(223)和同步后基准m序列(227) 按位进行码元比较后输出误码信息(224)给误码率估算单元,该误码信息包括错误 码元数和总码元数;

误码率估算单元用于每隔1s进行一次样本误码率的计算,根据测试精度要求, 应用基于Bayes规则的误码估计算法给出实际误码率估计值,并通过RS422串口 将实际误码率估计值上传至中心处理器。

2.根据权利要求1所述的基于Bayes规则的误码率测试系统,其特征在于:时钟 信号(211)的频率高于光缆/电缆传输系统的波特率的10倍。

3.根据权利要求1所述的基于Bayes规则的误码率测试系统,其特征在于:m序 列发生器是9级移位寄存器。

4.根据权利要求1所述的基于Bayes规则的误码率测试系统,其特征在于:误码 率估算单元中应用的Bayes规则为,当传输总比特数为N、错误比特数为R时, 误码率θ的后验分布密度为p(θ|R,N)=θR(1-θ)N-R01θR(1-θ)N-R,0θ10,θ>1,]]>d表示 微分式的算子。

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