[发明专利]一种阵列基板检测电路及检测方法

权利要求书

1.一种阵列基板检测电路，其特征在于，

阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到 列信号线上，并引出有列检测引脚；

阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线分别并联电连接到 行信号线上，并引出有行检测引脚；

阵列基板上相邻的显示面板列之间设有列控制信号线，所述列控制信号线 与所述行信号线的交点处设置了列开关节点；

阵列基板上相邻的显示面板行之间设有行控制信号线，所述行控制信号线 与所述列信号线的交点处设置了行开关节点。

2.根据权利要求1所述的阵列基板检测电路，其特征在于，所述的列信号 线和行信号线包括：栅极信号线、数据信号线和公共电极信号线。

3.根据权利要求2所述的阵列基板检测电路，其特征在于，所述的列开关 节点和行开关节点分别包括：第一类型节点和第二类型节点；

其中，所述第一类型节点设置于所述数据信号线与所述列控制信号线或行 控制信号线的交点处；

所述第二类型节点设置于所述栅极信号线与所述列控制信号线或行控制信 号线的交点处，或者公共电极信号线与所述列控制信号线或行控制信号线交点 处。

4.根据权利要求3所述的阵列基板检测电路，其特征在于，所述第一类型 节点和第二类型节点为薄膜晶体管开关节点。

5.根据权利要求2所述的阵列基板检测电路，其特征在于，

所述栅极信号线与公共电极信号线交点处或所述列控制信号线与行控制信 号线交点处设置有起交叉隔离作用的第三类型节点。

6.一种阵列基板检测方法，其特征在于，该方法包括：

对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得 到列检测结果，其中，阵列基板上各显示面板列中类型相同的信号电路引出线 分别并联电连接到列信号线上；

对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得 到行检测结果，其中，阵列基板上各显示面板行中类型相同的信号电路引出线 分别并联电连接到行信号线上；

根据所述列检测结果与所述行检测结果，确定所述阵列基板上出现短路性 不良的显示面板。

7.根据权利要求6所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述对阵列基 板上各显示面板列同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到列检测结果 包括：

通过列检测引脚对阵列基板上各显示面板列同时施加检测信号，同时通过 列控制信号线控制列开关节点关断，从而控制行信号线的关断，通过行控制信 号线控制行开关节点导通，从而控制列信号线的导通，得到列检测结果。

8.根据权利要求6所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述对阵列基 板上各显示面板行同时施加检测信号，进行短路性不良检测，得到行检测结果 包括：

通过行检测引脚对阵列基板上各显示面板行同时施加检测信号，同时通过 行控制信号线控制行开关节点关断，从而控制列信号线的关断，通过列控制信 号线控制列开关节点导通，从而控制行信号线的导通，得到行检测结果。

9.根据权利要求6所述的阵列基板检测方法，其特征在于，所述根据所述 列检测结果与所述行检测结果，确定所述阵列基板上出现短路性不良的显示面 板具体为：

根据所述列检测结果所确定的出现短路性不良的显示面板列，与所述行检 测结果所确定的出现短路性不良的显示面板行进行十字交叉定位，确定所述阵 列基板上出现短路性不良的显示面板。