[发明专利]一种测量待测物件色彩光谱数据的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及色彩数据测量技术领域，更具体地说，涉及一种测量待测物件色彩光谱数据的方法及装置。

背景技术

在传统工业生产领域，当需要准确测量色彩或复制色彩时都必需实用分光光度计(Spectrophotometer)，分光光度计成为不可缺少的色彩测量器材。分光光度计可以非常准确地测量物件表面的色彩光谱数据，从而转换成CIEXYZ或CIELAB色彩，但是遗憾的是分光光度计的价格非常昂贵，一般的中小企业很难购买得起。

为了解决测量色彩光谱数据必需使用昂贵的分光光度计的问题，帮助中小企业降低成本，迫切需要一种测量待测物件色彩光谱数据的方法及装置，用户只需使用数码相机和一参考彩格图，再通过计算机系统处理就可以计算出色彩光谱数据。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术中需要测量物件表面的色彩光谱数据或需要准确复制色彩时必需使用价格昂贵的分光光度计，一般中小企业很难负担得起，因此，提供一种测量待测物件色彩光谱数据的方法及装置，无需购买价格昂贵的分光光度计，只需要使用一般的数码相机与一参考彩格图，再通过计算机系统的处理就能计算出色彩光谱数据。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种测量待测物件色彩光谱数据的方法，具体包括以下步骤：

A.将待测物件与一参考彩格图放置在一起，通过影像输入装置获取包括所述参考彩格图的原始色彩数据和所述待测物件的原始色彩数据的影像档案；

B.将所述影像档案输入计算机系统，通过光源均匀化处理得到所述参考彩格图的补偿后色彩数据和所述待测物件的补偿后色彩数据；

C.利用所述参考彩格图的补偿后色彩数据和所述参考彩格图的原始光谱数据建立一个查找表，利用所述待测物件的补偿后色彩数据查找所述查找表获取待测物件的色彩光谱数据。

在本发明所述的方法中，所述影像输入装置是数码相机或影像扫描器。

在本发明所述的方法中，所述步骤C进一步包括利用所述待测物件的补偿后色彩数据查找所述查找表获取待测物件的CIE色度坐标。

在本发明所述的方法中，所述步骤B进一步包括：

B1.将所述参考彩格图的原始色彩数据进行光源分析处理，获取光源均匀补偿参数；

B2.将所述参考彩格图的原始色彩数据、所述待测物件的原始色彩数据和所述光源均匀补偿参数进行光源均匀补偿处理，获取所述参考彩格图的补偿后色彩数据和所述待测物件的补偿后色彩数据。

在本发明所述的方法中，所述步骤B1中所述光源分析处理的计算公式为：

其中D为参考彩格图原始色彩数据，F为光源均匀补偿参数，i＝[0..n]，其中，n为参考彩格图中的彩格量。

在本发明所述的方法中，所述步骤B2中所述光源均匀补偿处理的计算公式为：

S_i＝F_f×D_i

F_f＝F_iv1+(F_iv0-F_iv1)×t

其中，i＝[0..n]

其中，F_iv0＝F₄+(F₀-F₄)×u

其中，F_iv1＝F₂₄+(F₂₀-F₂₄)×u

其中，t=Diy-F20yF0y-F20y]]>