[发明专利]诊断辐射EMI机理的实验台及辐射EMI机理的简易诊断方法有效

专利信息
申请号: 200810242655.4 申请日: 2008-12-30
公开(公告)号: CN101458283A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 赵阳;褚家美;颜伟;李世锦;罗永超 申请(专利权)人: 南京师范大学
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 南京知识律师事务所 代理人: 程化铭
地址: 210046江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 诊断 辐射 emi 机理 实验 简易 方法
【权利要求书】:

1.一种辐射EMI机理的简易诊断方法,其步骤是:

第一步:将被测电路放置于诊断辐射EMI机理的实验台的工作台台面上;

第二步:将被测电路平面区域划分为若干辐射干扰单元nij

第三步:辐射干扰单元nij辐射干扰初测,即:将频谱分析仪的扫描频段调至全频扫描,将电场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各个辐射干扰单元nij进行测量,找到各辐射干扰单元nij的频谱变化明显的频段,并将这些频段下限值的最小值作为辐射电场精测频段的下限值,将这些频段上限制的最大值作为辐射电场精测频段的上限制;从频谱分析仪的输入端取下电场探头,将磁场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各个辐射干扰单元nij进行测量,找到各辐射干扰单元nij的频谱变化明显的频段,并将这些频段下限值的最小值作为辐射磁场精测频段的下限值,将这些频段上限制的最大值作为辐射磁场精测频段的上限制;

第四步:辐射干扰单元nij辐射干扰精测,即:根据第三步得到的辐射电场精测频段调整频谱分析仪的扫描频段,将电场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各辐射干扰单元nij进行测量,得到对应的电平值,根据得到的电平值,计算各辐射干扰单元nij的辐射电场强度:

E(V/m)=10(EdB(μV/m)20-6);]]>

从频谱分析仪的输入端取下电场探头,将磁场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各个辐射干扰单元nij进行测量,得到对应的电平值,根据得到的电平值,计算各辐射干扰单元nij的辐射磁场强度:

H(A/m)=10(EdB(μA/m)20-6).]]>

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