[发明专利]诊断辐射EMI机理的实验台及辐射EMI机理的简易诊断方法有效
申请号: | 200810242655.4 | 申请日: | 2008-12-30 |
公开(公告)号: | CN101458283A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 赵阳;褚家美;颜伟;李世锦;罗永超 | 申请(专利权)人: | 南京师范大学 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 | 代理人: | 程化铭 |
地址: | 210046江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 诊断 辐射 emi 机理 实验 简易 方法 | ||
1.一种辐射EMI机理的简易诊断方法,其步骤是:
第一步:将被测电路放置于诊断辐射EMI机理的实验台的工作台台面上;
第二步:将被测电路平面区域划分为若干辐射干扰单元nij;
第三步:辐射干扰单元nij辐射干扰初测,即:将频谱分析仪的扫描频段调至全频扫描,将电场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各个辐射干扰单元nij进行测量,找到各辐射干扰单元nij的频谱变化明显的频段,并将这些频段下限值的最小值作为辐射电场精测频段的下限值,将这些频段上限制的最大值作为辐射电场精测频段的上限制;从频谱分析仪的输入端取下电场探头,将磁场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各个辐射干扰单元nij进行测量,找到各辐射干扰单元nij的频谱变化明显的频段,并将这些频段下限值的最小值作为辐射磁场精测频段的下限值,将这些频段上限制的最大值作为辐射磁场精测频段的上限制;
第四步:辐射干扰单元nij辐射干扰精测,即:根据第三步得到的辐射电场精测频段调整频谱分析仪的扫描频段,将电场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各辐射干扰单元nij进行测量,得到对应的电平值,根据得到的电平值,计算各辐射干扰单元nij的辐射电场强度:
从频谱分析仪的输入端取下电场探头,将磁场探头连接至频谱分析仪的输入端,依次对各个辐射干扰单元nij进行测量,得到对应的电平值,根据得到的电平值,计算各辐射干扰单元nij的辐射磁场强度:
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