[发明专利]一种电路放电检测系统有效
| 申请号： | 200810242718.6 | 申请日： | 2008-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN101458300A | 公开（公告）日： | 2009-06-17 |
| 发明（设计）人： | 徐毅刚;李东跃 | 申请（专利权）人： | 无锡市星迪仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/308 | 分类号： | G01R31/308 |
| 代理公司： | 无锡市大为专利商标事务所 | 代理人： | 曹祖良 |
| 地址： | 214028江苏省无锡市新*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电路 放电 检测 系统 | ||
1.一种电路放电检测系统，包括紫外辐射成像系统、可见光成像系统、图像融合处理系统(6)和热成像系统(15)，其特征是：利用所述紫外辐射成像系统、所述可见光成像系统和所述热成像系统(15)同时对被测电路(2)进行成像观测；所述紫外辐射成像系统捕获放电火花(1)所发出的紫外辐射，产生并输出放电火花图像(8)；所述可见光成像系统捕获并输出被测电路的实体图像(5)；所述热成像系统(15)获取被测电路热辐射强度分布图(16)；所述热成像系统(15)获取的被测电路热辐射强度分布图(16)与所述紫外成像系统获取的放电火花图像(8)、所述可见光成像系统获取的被测电路的实体图像(5)一同输入到所述图像融合处理系统(6)，由所述图像融合处理系统(6)对上述放电火花图像(8)、被测电路的实体图像(5)及被测电路热辐射强度分布图(16)的数据进行处理与融合计算，从而获得包含了标识出放电火花图像(8)及其位置与被测电路温度分布梯度的被测电路图像(17)；
其中，所述紫外辐射成像系统用于在全光谱辐射背景中去除紫外辐射以外的部分，并将放电火花产生的微弱紫外辐射放大并成像，所述紫外辐射成像系统包括紫外物镜(11)、位于所述紫外物镜后面的紫外像增强器(10)及图像采集系统(9)；所述紫外物镜(11)捕获放电火花(1)所发出的紫外辐射，经所述紫外像增强器(10)增强后，由所述图像采集系统(9)产生并输出放电火花图像(8)；
所述可见光成像系统包括物镜和位于所述物镜后面的可见光摄像系统(4)；所述物镜捕获被测电路(2)的图像，经所述可见光摄像系统(4)产生并输出被测电路的实体图像(5)；所述物镜为所述紫外辐射成像系统中的同一所述紫外物镜(11)，在所述紫外物镜(11)的后面与所述可见光摄像系统(4)之间设置一个分光镜(12)；利用所述分光镜(12)将除紫外波段以外的光谱辐射成像光束反射至所述可见光摄像系统(4)；
在所述可见光摄像系统(4)上设置可见像增强器(13)，利用所述可见像增强器(13)对图像信号的放大功能捕获并输出黑暗环境中被测电路的实体图像(5)。
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