[发明专利]一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法无效
申请号: | 200810246534.7 | 申请日: | 2008-12-29 |
公开(公告)号: | CN101441160A | 公开(公告)日: | 2009-05-27 |
发明(设计)人: | 钱建强;刘文良;李渊;李英姿 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01N13/16 | 分类号: | G01N13/16 |
代理公司: | 北京永创新实专利事务所 | 代理人: | 周长琪 |
地址: | 100083*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 原子 显微镜 连续 成像 自动 选区 方法 | ||
1.一种适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,其特征在于:通过原子力显微镜对待测区域进行大范围扫描获取当前AFM图像,将当前AFM图像进行等比例缩为0-255之间整数的数学信息图像A,然后对该数学信息图像A进行8×8的图块分割,对分割后的图块C采用离散余弦变换DCT进行处理获得频域图块D,对频域图块采用量化表进行量化获得量化图块E,对每一个量化图块采用8为步进的二维遍历得到分化图块F,然后对每一个分化图块依据压缩率公式求取压缩率,选取压缩率最小的分化图块即为求得的子区域;最后应用该子区域进行进一步扫描成像,从而获得更高分辨率的图像,通过反复调用该方法能够实现原子力显微镜的连续自动成像;PZero表示分化图块F中为零的数值的个数,PTotal表示分化图块F中数值的总个数;
对所述的数学信息图像A的宽、高不是8的整数倍,则通过填充0的方式延拓到8的整数倍,得到延拓后的图像B,延拓图像B的宽度为W1,高度为H1,延拓图像B对应的数据集合记为延拓图像B划分为8×8个分割图块C11表示第一行第一列的图块,C12表示第一行第二列的图块,C18表示第一行第八列的图块,C21表示第二行第一列的图块,C22表示第二行第二列的图块,C28表示第二行第八列的图块,C81表示第八行第一列的图块,C82表示第八行第二列的图块,C88表示第八行第八列的图块;
对分割图块中的每一个图块分别进行以8×8为块的离散余弦变换DCT处理,得到频域图块D11表示第一行第一列的频域图块,D12表示第一行第二列的频域图块,D18表示第一行第八列的频域图块,D21表示第二行第一列的频域图块,D22表示第二行第二列的频域图块,D28表示第二行第八列的频域图块,D81表示第八行第一列的频域图块,D82表示第八行第二列的频域图块,D88表示第八行第八列的频域图块;
使用量化表对频域图块中的每个频域图块进行量化处理,得到量化图块E11表示第一行第一列的量化图块,E12表示第一行第二列的量化图块,E18表示第一行第八列的量化图块,E21表示第二行第一列的量化图块,E22表示第二行第二列的量化图块,E28表示第二行第八列的量化图块,E81表示第八行第一列的量化图块,E82表示第八行第二列的量化图块,E88表示第八行第八列的量化图块;
对量化图块中的每个图块以8为步进进行二维遍历得到分化图块其中,第一个分化图块第二个分化图块且W2=W1-8,H2=H1-8,第八个分化图块第九个分化图块第十个分化图块第十六个分化图块第五十七个分化图块第五十八个分化图块和第六十四个分化图块WS表示分化图块F中的每一个分化图块的宽,HS表示分化图块F中的每一个分化图块的高,且分化图块F中的每一个分化图块的宽WS和高HS是相同的。
2.根据权利要求1所述的适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,其特征在于:当前AFM图像的宽度和高度的单位是像素。
3.根据权利要求1所述的适用于原子力显微镜的连续成像自动选区方法,其特征在于:数学信息图像A、分割后的图块、频域图块D、量化图块E和分化图块F中的宽度和高度的单位是像素。
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