[发明专利]一种通用串行总线控制器的测试方法和测试系统无效

专利信息
申请号: 200810246591.5 申请日: 2008-12-25
公开(公告)号: CN101446623A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 张浩 申请(专利权)人: 北京中星微电子有限公司
主分类号: G01R31/3181 分类号: G01R31/3181;G06F11/263
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 代理人: 顾惠忠
地址: 100083北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 通用 串行 总线 控制器 测试 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及通用串行总线通道测试领域,特别是涉及一种通用串行总线控制器的测试方法和测试系统。

背景技术

USB(Universal Serial Bus,通用串行总线)是连接外部设备的一个串口总线标准,由于其具有较高的传输速率而被广泛应用,特别是多媒体数据传输应用领域。USB器件一般包括发送器、接收器、USB控制器以及USB接口,通过USB控制器控制发送器或接收器从USB接口发生或接收数据。

通常,USB器件在制造完成之后,需要测试其工作性能是否完善,首要的重点就是测试该USB器件是否能够正常工作,而正常工作的最重要环节就是USB器件的发送器或接收器能够完整而且正确无误地将数据进行发送或接收。因此,对USB通道内数据的发送或接收的准确性进行测试是USB器件检测中的关键环节。

目前,市场上绝大部分USB接口的器件都已经采用USB2.0接口标准,这种标准的接口能提供480Mbps的数据通信带宽,并且接口的频率可以高达480MHz。因此,很难使用ATE(Automatic Test Equipment,自动测试设备)测试台直接对该USB2.0接口输入测试向量进行数据发送或接收的测试。现有技术中一般采用扫描链测试对USB器件进行数据发送或接收的测试。通过测试台使用自动测试向量生成工具(Automatic Test Pattern Generation,ATPG)产生的测试向量(pattern)进行测试。测试时,ATPG自动生成的测试向量按顺序加载于扫描链中的各个寄存器上,将寄存器输出的信号收集并与预算好的测试向量相比较,从而判断是否测试到错误。但是,扫描链中的一部分寄存器间的待测组合逻辑不能完成测试,因而不能被测试到,造成扫描链测试的覆盖率不能达到100%。这时,就会导致USB通道中的发送器、接收器及USB控制器的部分逻辑功能的漏测。

一般,可以通过物理层收发器嵌入式自我测试(phy build in self test,简称phybist)完成对USB物理层收发器(phy),即发送器及接收器的测试。物理层收发器嵌入式自我测试的测试向量由ATE测试台提供。ATE测试台通过检测返回的物理层收发器嵌入式自我测试故障(phybist-fail)信号来检测物理层收发器的好坏。

虽然,USB通道内的物理层收发器可以通过物理层收发器嵌入式自我测试进行覆盖,但现有技术中仍然缺少一种测试方法可以将USB控制器进行覆盖。

总之,需要本领域技术人员迫切解决的一个技术问题就是:如何创新地提出一种通用串行总线控制器的测试方法和测试系统,使得通过该测试方法和测试系统,能够对USB通道内的USB控制器的功能测试进行覆盖。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种通用串行总线控制器的测试方法和测试系统,使得通过该测试方法和测试系统,能够对USB通道内的USB控制器的功能测试进行覆盖。

为了解决上述问题,本发明公开了一种通用串行总线控制器的测试方法,所述方法包括以下步骤:

在测试通用串行总线控制器的信号触发下,将通用串行总线控制器的UTMI接口切换至测试模式;

在所述测试模式下,通过外部测试台向通用串行总线控制器输入测试向量,将通用串行总线控制器输出的信号与预算好的测试向量相比较,根据比较结果判断所述通用串行总线控制器是否正常。

优选的,所述测试向量被引接到双向输入/输出焊垫上,输入至通用串行总线控制器;以及,所述通用串行总线控制器输出的信号被引接到双向输入/输出焊垫上,输出至外部测试台。

优选的,所述测试向量被引接到双向输入/输出焊垫上后,还包括:

将ULPI接口形式的测试向量信号转换为UTMI接口形式的测试向量信号,进而输入至通用串行总线控制器。

优选的,所述通用串行总线控制器输出的信号被引接到双向输入/输出焊垫上之前还包括:将UTMI接口形式的通用串行总线控制器输出信号转换为ULPI接口形式的输出信号。

进一步,还可将所述通用串行总线控制器的UTMI接口在退出测试模式时切换至功能模式,在所述功能模式下,通用串行总线控制器的UTMI接口与通用串行总线物理层收发器相连接。

根据本发明的实施例,还公开了一种通用串行总线控制器的测试系统,包括外部测试台和一测试器,其中,测试器包括:通用串行总线控制器以及通用串行总线物理层收发器,所述测试器还包括:

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