[发明专利]计算机开关机测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试电路，尤指一种计算机开关机测试电路。

背景技术

计算机产品生产完毕后，都必须测试其稳定性以保证产品质量。测试计算机开关机性能 是计算机稳定性测试过程中必不可少的环节。测试计算机的开关机功能的传统方法是将计算 机接上交流电源并通过手工操作其电源键的方式以测试其开机或关机性能。若不能正常开/ 关机，或开/关机的时间过长，则需要更进一步测试计算机的性能以查出异常原因便于维修 。但是这种人工操作的方式效率低，尤其是测试多台计算机，而且需要重复测试计算机的开 /关机性能时，浪费时间及人力。

为了提高测试效率，测试计算机开关机性能时可采用机械手开关模拟手动操作，重复触 压计算机开关，达成测试计算机开关机性能的目的。但是，这种机械手不太稳定，不能严格 的按照测试要求自动完成测试。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种测试效率高且稳定可靠的计算机开关机测试电路。

一种计算机开关机测试电路，用于测试待测计算机的开关机性能，包括一与所述待测计 算机相连以控制所述待测计算机开关机状态的开关模组，所述计算机开关机测试电路还包括 一与所述开关模组相连以控制所述开关模组的开合状态的控制芯片，所述控制芯片内烧录有 测试程序且在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号至所述开关模组以控制所述 开关模组重复切换所述待测计算机的开关机状态，所述测试程序设定所述高/低电平信号的 切换频率及保持时间。

本发明计算机开关机测试电路利用一烧录有测试程序的控制芯片来测试计算机的开关机 性能，电路稳定可靠，且可按照测试要求自动对计算机进行开关机测试，测试效率高。

附图说明

图1为本发明较佳实施方式计算机开关机测试电路的组成方框图。

图2是图1中控制模组、驱动模组及显示模组的电路图。

图3是图1中电源模组及开关模组的电路图。

具体实施方式

请参阅图1，本发明较佳实施方式计算机开关机测试电路包括一控制模组10、一驱动模 组20、一显示模组30、一电源模组40及一开关模组50。所述控制模组10可周期性地发出开/ 关机信号至所述开关模组50，所述开关模组50与待测试计算机的开关引脚相连，可重复的对 所述待测试计算机进行开关机动作，从而验证所述待测试计算机是否能通过严格的开关机测 试。所述显示模组30可显示测试时间，测试次数等测试信息。所述驱动模组20用于驱动所述 显示模组30。所述电源模组40可提供电源至所述控制模组10及其它需供电的模组。

请参阅图2，所述控制模组10包括一单片机102(亦可为其它可编程的控制芯片)及一提 供时钟脉冲信号的晶振电路104。所述单片机102内烧录有测试程序、按键扫描程序、驱动显 示程序等程序。所述单片机102在所述测试程序运行时发出周期性的高/低电平信号以重复切 换所述待测计算机的开关状态，所述测试程序根据测试需求设定了所述高/低电平信号的切 换频率及保持时间。所述晶振电路104由石英晶体Y和微调电容C1及C2组成，由于所述单片机 102内部有一个高增益反相放大器，当外接所述晶振电路50后，就构成了自激振荡器并产生 振荡时钟脉冲。所述单片机104的PB0(定时器/计数器)引脚与一按键K1相连，PB1(定时器 /计数器)引脚与一按键K2相连，PB2(模拟信号输入端)引脚与一按键K3相连，PB3(模拟 信号输入端)引脚与一按键K4相连。所述按键K1为开始/停止键，当所述按键扫描程序检测 到K1键被按下时可以开始或停止测试程序；所述按键K2为设置键，当所述按键扫描程序扫描 到所述K2键被按下时可切换并选定测试参数(如测试时间，测试次数等参数)类型，使所述 显示模组30相应显示测试次数或测试时间等信息；所述按键K3为加法键，当所述按键扫描程 序扫描到所述K3键被按下时可增加选定的测试参数值，如增加测试时间或测试次数；所述按 键K4为减法键，当所述按键扫描程序扫描到所述K4键被按下时可减小选定的测试参数值，如 减少测试时间或测试次数。所述单片机104还外接一连接器106，该连接器106可插接一编程 器用于烧录开关机测试程序至所述单片机102。所述单片机102的PD7引脚接有一工作指示灯 D1，该工作指示灯D1在测试时发亮，在测试停止时熄灭。