[发明专利]一种防止手机测试中过电流破坏的系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种防止手机测试中过电流破坏的系统及方法。

背景技术

在现有的手机测试中(如图1所示)，没有在测试治具上做过电流的保护，导致在电源供应器提供电压给手机测试时，如果发生意外情况(不当的操作、突发性断电或短路等)，电源供应器或测试治具中就会有大电流经过，从而损坏手机内部零件。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种防止手机测试中过电流破坏的系统，其可防止手机测试中产生的过电流对待测手机内部零件的破坏。

还有必要提供一种防止手机测试中过电流破坏的方法，其可防止手机测试中产生的过电流对待测手机内部零件的破坏。

一种防止手机测试中过电流破坏的系统，该系统包括一个测试治具和与之相连的电源供应器，所述测试治具连接待测手机，所述测试治具的正极和电源供应器的正极之间串联有一个过电流保护元件。

在上述防止手机测试中过电流破坏的系统中，当通过所述过电流保护元件的电流急速升高而大于或等于设定的阀值时，所述过电流保护元件自动切断所述电源供应器至所述测试治具的通路。

在上述防止手机测试中过电流破坏的系统中，所述过电流保护元件是自恢复保险丝。

在上述防止手机测试中过电流破坏的系统中，当通过所述过电流保护元件的电流小于设定的阀值后，所述过电流保护元件立即恢复原状而继续导通。

一种防止手机测试中过电流破坏的方法，该方法包括如下步骤：提供一个测试治具和与之相连的电源供应器；在所述测试治具的正极和电源供应器的正极之间串联一个过电流保护元件；使所述测试治具与待测手机相连，以进行手机测试。

在上述防止手机测试中过电流破坏的方法中，当通过所述过电流保护元件的电流急速升高而大于或等于设定的阀值时，所述过电流保护元件自动切断所述电源供应器至所述测试治具的通路。

在上述防止手机测试中过电流破坏的方法中，所述过电流保护元件是自恢复保险丝。

在上述防止手机测试中过电流破坏的方法中，当通过所述过电流保护元件的电流小于设定的阀值后，所述过电流保护元件立即恢复原状而继续导通。

相较于现有技术，所述的一种防止手机测试中过电流破坏的系统及方法，可以防止手机测试中产生的过电流对待测手机内部零件的破坏。

附图说明

图1是现有的手机测试系统的结构示意图。

图2是本发明一种防止手机测试中过电流破坏的系统的结构示意图。

具体实施方式

如图2所示，是本发明一种防止手机测试中过电流破坏的系统的结构示意图。本发明与图1中所示的现有手机测试系统相比，在测试治具1的正极和电源供应器2的正极之间串联一个过电流保护元件3。所述测试治具1与待测手机(图中未示出)相连，以进行手机测试。所述过电流保护元件3可选用保险丝，最好是自恢复保险丝(Poly switch)，因为自恢复保险丝的使用寿命为2000(cycles)，它不像一般的保险丝一旦熔断后就需更换，自恢复保险丝在过电流产生时会断开，当电流恢复正常时它就继续导通。在本实施例中，所述过电流保护元件3采用自恢复保险丝，在其它实施例中，所述过电流保护元件3也可采用其它限流元件。

在手机测试过程中，电源供应器2中的电流通过所述过电流保护元件3流入测试治具1。当发生意外情况(不当的操作、突发性断电或短路等)，通过所述过电流保护元件3的电流急速升高而大于或等于设定的阀值时，所述过电流保护元件3的温度就会瞬间上升、阻抗提高，从而自动切断所述电源供应器2至所述测试治具1的通路，导致通过所述过电流保护元件3的电流在极短时间(微秒)内降低。当通过所述过电流保护元件3的电流小于设定的阀值后，所述过电流保护元件3就会立即恢复原状而继续导通。

最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。