[发明专利]高度检测装置以及高度检测方法有效

专利信息
申请号: 200810303589.7 申请日: 2008-08-08
公开(公告)号: CN101644564A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 林奕村 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B17/00;G01S17/08;G01S15/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 高度 检测 装置 以及 方法
【权利要求书】:

1.一种高度检测装置,包括承载基座、顶板、活动件以及测距仪,所述承载 基座具有相对的第一表面和第二表面,承载基座自第一表面向内开设有收容 孔,自第二表面向内开设有与收容孔相连通的测距孔,所述收容孔用于收容 顶板、活动件和待检测元件,所述顶板用于承载待检测元件,所述活动件设 置于顶板和承载基座之间,用于调整顶板相对于第一表面的距离,以使待检 测元件的顶面与承载基座的第一表面相齐平,所述测距仪设置于第二表面, 用于通过测距孔测量顶板与测距仪之间的距离,从而根据承载基座的高度、 顶板的高度以及所测距离获得待检测元件的高度。

2.如权利要求1所述的高度检测装置,其特征在于,所述活动件的移动方向 平行于测距孔的中心轴线,所述收容孔的中心轴线平行于测距孔的中心轴线。

3.如权利要求1所述的高度检测装置,其特征在于,所述测距仪包括测距头 和显示器,所述测距头设置于第二表面,用于发射测距信号和接收被顶板反 射回的测距信号,从而获得第二表面与顶板之间的距离,所述显示器与测距 头相连接,用于获得并显示待检测元件的高度。

4.如权利要求1所述的高度检测装置,其特征在于,所述收容孔具有相连接 的第一底壁和第一侧壁,所述顶板与第一底壁平行,所述第一底壁与第一表 面平行,所述第一侧壁与第一表面垂直。

5.如权利要求4所述的高度检测装置,其特征在于,所述活动件为滑动元件, 设置于第一侧壁与顶板之间。

6.如权利要求4所述的高度检测装置,其特征在于,所述活动件为弹性元件, 连接于第一底壁和顶板之间。

7.如权利要求4所述的高度检测装置,其特征在于,所述承载基座还具有自 第一底壁向第二表面方向开设的第一收容槽,所述第一收容槽具有与第一表 面平行的第二底壁,所述活动件为弹性元件,连接于第二底壁和顶板之间。

8.如权利要求1所述的高度检测装置,其特征在于,所述高度检测装置还包 括顶出杆以及与顶出杆枢接的顶出转轴,所述承载基座还开设有用于收容顶 出杆的第二收容槽和用于收容顶出转轴的第三收容槽,所述顶出转轴的长度 方向垂直于收容孔的中心轴线方向和顶出杆的长度方向,所述顶出杆的长度 方向垂直于收容孔的中心轴线方向。

9.如权利要求8所述的高度检测装置,其特征在于,所述顶出转轴相对固定 于承载基座,所述顶出杆包括依次连接的按压部、枢接部以及抵靠部,所述 按压部用于供操作人员按压,所述枢接部与顶出转轴枢接,所述抵靠部用于 在操作人员按压按压部时顶出顶板。

10.一种高度检测方法,包括步骤:

提供待检测元件以及如权利要求1至9任一项所述的高度检测装置,所述待 检测元件具有相对的顶面和底面;

将待检测元件放置于收容孔,使待检测元件的底面与顶板相接触,并使待检 测元件的顶面与承载基座的第一表面相齐平;

测距仪通过测距孔测量顶板与测距仪之间的距离,从而根据承载基座的高度、 顶板的高度以及所测距离获得待检测元件的高度。

11.如权利要求10所述的高度检测方法,其特征在于,所述待检测元件的高 度等于承载基座的高度减去顶板的高度以及测距仪所测距离。

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