[发明专利]铜核层多层封装基板的制作方法有效
申请号: | 200810304555.X | 申请日: | 2008-09-19 |
公开(公告)号: | CN101677067A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | 林文强;王家忠;陈振重 | 申请(专利权)人: | 钰桥半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H05K3/46 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司 | 代理人: | 何 为 |
地址: | 中国台湾台北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 铜核层 多层 封装 制作方法 | ||
1.一种铜核层多层封装基板的制作方法,其特征在于至 少包含下列步骤:
(A)提供一铜核基板;
(B)分别于该铜核基板的第一面上形成一第一阻层,以 及于该铜核基板的第二面上形成一完全覆盖状的第二阻层,于 其中,该第一阻层上形成数个第一开口;
(C)于数个第一开口下方形成数个第一凹槽;
(D)移除该第一阻层及该第二阻层;
(E)于数个第一凹槽内形成一第一电性阻绝层;
(F)于该铜核基板的第一面与该第一电性阻绝层上形成 一第一介电层及一第一金属层;
(G)于该第一金属层与该第一介电层上形成数个第二开 口,并显露部分的铜核基板第一面; (H)于数个第二开口中及该第一金属层上形成一第二金属 层;
(I)分别于该第二金属层上形成一第三阻层,以及于该 铜核基板的第二面上形成一完全覆盖状的第四阻层,于其中, 该第三阻层上形成数个第三开口;
(J)移除该第三开口下方的第二金属层及第一金属层, 并形成一第一线路层;
(K)移除该第三阻层及该第四阻层,至此,完成一具有 铜核基板支撑并具电性连接的单层增层线路基板,并选择直接 进行步骤(L)或步骤(M);
(L)于该单层增层线路基板上进行一置晶侧与球侧线路 层制作,于其中,在该第一线路层表面形成一第一防焊层,并 且在该第一防焊层上形成数个第四开口,以显露该第一线路层 作为电性连接垫的部分,接着于该铜核基板的第二面上形成一 第五阻层,并且在该第五阻层上形成数个第五开口,之后再分 别于数个第四开口中形成一第一阻障层,以及于第五开口中形 成一第二阻障层,最后移除该第五阻层;以及
(M)于该单层增层线路基板上进行一线路增层结构制 作,于其中,在该第一线路层表面形成一第二介电层,并且在 该第二介电层上形成数个第六开口,以显露部分的第一线路 层,接着于该第二介电层与数个第六开口表面形成一第一晶种 层,再分别于该第一晶种层上形成一第六阻层,以及于该铜核 基板的第二面上形成一完全覆盖状的第七阻层,并于该第六阻 层上形成数个第七开口,以显露部分的第一晶种层,之后于该 第七开口中已显露的第一晶种层上形成一第三金属层,最后移 除该第六阻层、该第七阻层及该第一晶种层,以在该第二介电 层上形成一第二线路层,至此,完成一具有铜核基板支撑并具 电性连接的双层增层线路基板,并继续本步骤(M)增加线路 增层结构,形成具更多层的封装基板,亦或直接至该步骤 (L)进行置晶侧与球侧线路层制作。
2.根据权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方 法,其特征在于,该铜核基板为一不含介电层材料的铜板。
3.根据权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方 法,其特征在于,该第一~七阻层是以贴合、印刷或旋转涂布 所为的干膜或湿膜的高感旋光性光阻。
4.根据权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方 法,其特征在于,数个第一、三、五及七开口以曝光及显影的 方式形成。
5.根据权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方 法,其特征在于,该步骤(C)形成数个第一凹槽、该步骤 (J)移除该第一、二金属层及该步骤(M)移除该第一晶种 层的方法为蚀刻。
6.根据权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方 法,其特征在于,该第一~七阻层的移除方法为剥离。
7.根据权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方 法,其特征在于,该第一电性阻绝层以直接压合或印刷的方式 形成。
8.根据权利要求1所述的铜核层多层封装基板的制作方 法,其特征在于,该第一电性阻绝层及该第一、二介电层为防 焊绿漆、环氧树脂绝缘膜、苯环丁烯、双马来亚酰胺-三氮杂 苯树脂、环氧树脂板、聚酰亚胺、聚四氟乙烯、环氧树脂或玻 璃纤维其中之一。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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