[发明专利]高度量测仪

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术，尤其涉及一种高度量测仪。

背景技术

高度测量作为测量技术中的一个重要方面，需要能够适合各种测量情况的高度量测仪进 行量测。如Tomas Fischer等人在2006年IEEE系统、仪器及检测技术的国际研讨会 (Instrumentation and Measurement Technology Conference)上发表的论文A Novel Optical Method of Dimension Measurement of Objects with Circular Cross-section中 揭示了一种高度检测方法。

目前，高度量测仪主要由底座、导杆、延伸杆与高度规构成。底座主要用于固定支承导 杆等部件。测量时，先将待测量元件放置于底座上，然后沿导杆轴向调节延伸杆的高度，使 得套设于延伸杆中的高度规随延伸杆移动，再微调高度规使高度规的量测探头与待测量元件 接触，则底座表面与量测探头的间距即为待测量元件的高度。但是，现有的高度量测仪的延 伸杆的长度固定，且其延伸的方向亦固定，从而不能方便地测量同一待测元件上具有不同高 度差的多个表面位置的高度，其测量范围与测量效率受到很大限制。

因此，有必要提供一种测量范围广、测量效率高的可伸缩转向的高度量测仪。

发明内容

下面将以具体实施例说明一种可伸缩转向的高度量测仪。

一种高度量测仪，包括底座、导杆、延伸杆以及高度规，所述导杆固定于底座，所述延 伸杆包括可滑动的套设于导杆的滑动部，用于沿导杆的轴向移动，所述高度规设于延伸杆远 离导杆的一端，所述延伸杆具有第一延伸部以及与第一延伸部平行的第二延伸部，第一延伸 部与第二延伸部远离导杆的一端设有一连接部，用于连接第一延伸部与第二延伸部，所述第 二延伸部可相对该连接部滑动及转动。

一种高度量测方法，包括步骤：提供待测量元件以及如上所述的高度量测仪，所述待测 量元件上包括待测量高度的第一位置、第二位置及第三位置；测量第一位置的高度；延伸第 二延伸部，测量第二位置的高度；转动第二延伸部，测量第三位置的高度。

相对于现有技术，本技术方案的高度量测仪及高度量测方法具有如下优点：首先，其利 用可延伸的第二延伸部延伸到需要长度后再测量待测量元件在该位置的高度，扩大了量测区 域；其次，其利用第二延伸部旋转后即可测量待测量元件在另一位置的高度，不需移动待测 量元件，不仅扩大了量测区域，还提高了测量效率。

附图说明

图1是本技术方案实施例提供的高度量测仪的示意图。

图2是本技术方案包括三个测量位置(A、B、C)的待测量元件示意图。

图3是本技术方案的高度量测仪的精密量测仪归零的示意图。

图4是本技术方案的高度量测仪测量A位置所在高度的示意图。

图5是本技术方案的高度量测仪测量B位置所在高度的示意图。

图6是本技术方案的高度量测仪测量C位置所在高度的示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本技术方案的高度量测仪作进一步详细说明。

请参阅图1，本技术方案实施例提供的高度量测仪100，包括底座10、导杆20、延伸杆 30以及高度规40。

底座10具有第一表面12和第二表面14。所述第一表面12与第二表面14平行相对。第一表 面12为平面，其用于承载待测量元件。

导杆20固定于底座10且与底座10垂直，即与第一表面12垂直。导杆20近似为圆柱体。

延伸杆30包括滑动部31、第一延伸部32、第二延伸部33、固定螺丝34、连接部35与水平 气泡仪36。第一延伸部32与第二延伸部33远离导杆20的一端设有一连接部35，用于连接第一 延伸部32与第二延伸部33，从而，第二延伸部33可相对该连接部35滑动及转动。本实施例中 ，所述连接部35为一连接螺栓。

滑动部31近似为圆筒状，其内孔径略大于导杆20的外径以可与导杆20相配合。滑动部 31可滑动的套设于导杆20，用以使延伸杆30可沿导杆20的轴向移动，从而调节延伸杆30相对 底座10的第一表面12的距离。滑动部31的一端与固定螺丝34连接。固定螺丝34用于将滑动部 31锁紧，以使滑动部31相对导杆20固定，从而使与滑动部31固定的延伸杆30相对固定于导杆 20。