[发明专利]高度规及高度测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及高度测量技术，尤其涉及一种测量高度的高度规及采用该高 度规测量高度的方法。

背景技术

高度测量作为测量技术中的一个重要方面，其测量的方便性与准确性备 受关注。如Tomas Fischer等人在2006年IEEE系统、仪器及检测技术的国 际研讨会(Instrumentation and Measurement Technology Conference)上发表的 论文A Novel Optical Method of Dimension Measurement of Objects with  Circular Cross-section中揭示了一种高度测量方法。

高度测量主要分为非接触式测量与接触式测量两大类。而在接触式测量 中，一般使用高度规作为主要的测量工具。目前，高度规300主要由底座310、 导柱320、延伸杆330、测量杆340与高度量测表350构成，请参阅图6。利 用现有的高度规300测量待测量元件200时，测量杆340一般均与待测量表 面垂直接触以进行测量。当以待测量元件200狭小的环形面230作为测量基 准面，测量上表面220与环形面230的距离时，需先使测量杆340与环形面 230垂直接触并调零使环形面230作为测量基准面（参考零点）。但是，由于 环形面230过于狭小，使得测量杆340很难与环形面230紧密接触，即使勉 强接触，也会导致待测量元件200产生倾斜，从而不能准确根据测量基准面 对高度规300进行调零，使得测量上表面220与环形面230的高度距离时量 测失败或量测误差过大。

因此，有必要提供一种可有效减少在此种情形下的测量误差的高度规。

发明内容

下面将以具体实施例说明一种可有效减少在上述情形下的测量误差的 高度规。

一种高度规，包括底座、导柱、延伸杆以及量测部，所述导柱固定于底 座，所述延伸杆包括可滑动的套设于导柱的滑动部，用于沿导柱的轴向移动， 所述量测部设于延伸杆远离导柱的一端，所述量测部包括基准杆、高度量测 表、测量杆、固定架、第一探针与第二探针，基准杆固定于延伸杆，高度量 测表固定于基准杆，测量杆可滑动的套设于基准杆，固定架连接于测量杆远 离基准杆的一端，第一探针与第二探针可转动的连接于固定架并可相对张开 成一预定夹角，当进行测量时第一探针及第二探针的末端同时与待测量面的 相对两侧紧密接触。

一种高度测量方法，包括步骤：提供待测量元件以及如权利要求1所述 的高度规，所述待测量元件具有一个基准面和一个待测量面；旋转第一探针 和第二探针至预定夹角，并使第一探针与第二探针与待测量元件的基准面的 相对两侧紧密接触；使第一探针和第二探针与待测量元件的待测量面紧密接 触并保持第一探针与第二探针的预定夹角不变；根据高度量测表获取待测量 面与基准面间的高度距离。

相对于现有技术，本技术方案的高度规及高度量测方法具有如下优点： 首先，其利用可绕固定架旋转的第一探针与第二探针形成一预定夹角以对待 测量表面进行测量，避免了探针垂直设置而无法接触到待测量的狭小表面的 问题，较少了测量困难；其次，其利用第一探针与第二探针与待测量表面的 相对两侧紧密接触进行测量，防止待测试元件倾斜，改善量测误差，提高测 量精度。

附图说明

图1是本技术方案实施例提供的高度规的示意图。

图2是本技术方案的高度规的固定架与探针连接处的剖视图。

图3是本技术方案待测量元件的示意图。

图4是本技术方案的高度规确定基准面并调零的示意图。

图5是本技术方案的高度规测量待测量面的示意图。

图6是现有技术的高度规的示意图。

具体实施方式

下面将结合附图对本技术方案的高度规作进一步详细说明。

请参阅图1，本技术方案实施例提供的高度规100，包括底座10、导柱 20、延伸杆30以及量测部40。

底座10具有第一表面12与第二表面14。所述第一表面12与第二表面 14平行相对。第一表面12为平面，其用于承载待测量元件。

导柱20固定于底座10并与底座10垂直，即与第一表面12垂直。导柱 20近似为圆柱体。