[发明专利]谷物实粒数的自动测量装置及方法无效

专利信息
申请号: 200810306493.6 申请日: 2008-12-24
公开(公告)号: CN101458204A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 骆清铭;刘谦;毕昆;徐小春 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10
代理公司: 北京市德权律师事务所 代理人: 王建国
地址: 430074湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 谷物 实粒数 自动 测量 装置 方法
【权利要求书】:

【权利要求1】一种谷物实粒数的自动测量装置,其特征在于,包括:

谷物脱粒仪,用于进行谷物的脱粒;

流水线系统,用于传送所述脱粒后的谷粒;

成像系统,用于采集所述流水线系统中脱粒后的谷粒以及谷粒内米粒的实时图像,并传输所述图像;

计算机,用于控制整个自动测量装置,并处理图像,获得谷粒和米粒的个数、面积及谷粒实粒数。

【权利要求2】根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述流水线系统具体包括:

皮带,用于传输和分离所述脱粒后的谷粒;

毛刷,位于所述皮带的下部外侧,用于去除附着在所述皮带上的残留谷粒;

皮带控制器,用于通过步进电机控制所述皮带移动的速度。

【权利要求3】根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述成像系统具体包括:

CCD相机,用于采集所述流水线系统中脱粒后的谷粒实时图像,并传输所述图像;

X射线放射源与探测器,用于采集所述流水线系统中谷粒内米粒的实时图像,并传输所述图像;

【权利要求4】根据权利要求1、2或3所述的装置,其特征在于,该系统进一步包括:

控制按钮,用于控制单穗谷物实粒数的测量;

光电开关,位于所述谷物脱粒仪的入口上方,用于感应人手,控制可控升降板的升降;

可控升降板,位于所述谷物脱粒仪的入口外部,用于在控制按钮及光电开关的控制下抬高或降低,当所述控制按钮按下,且所述光电开关感应到人手,则可控升降板抬高。

【权利要求5】根据权利要求4所述的装置,其特征在于,该系统进一步包括:

狭缝式管道接口,与所述谷物脱粒仪相连,位于谷物脱粒仪下方,用于引导谷粒落到流水线系统,减缓谷粒下落速度,分离谷粒。

【权利要求6】根据权利要求5所述的装置,其特征在于,该系统进一步包括:

带震动装置的谷粒分离通道板,与所述狭缝式管道接口相连,用于对黏连谷粒的进一步分离。

【权利要求7】根据权利要求6所述的装置,其特征在于,该装置进一步包括:

安全防护设施,为一铅房,将所述流水线系统和成像系统置于铅房内,用于防止X射线对人体的辐射伤害。

【权利要求8】一种谷物实粒数的自动测量方法,其特征在于,包括:

对谷物脱粒后传送脱粒后的谷粒,采集脱粒后的谷粒以及谷粒内米粒的实时图像,通过图像处理获得谷粒和米粒的个数、面积及谷粒实粒数。

【权利要求9】根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述采集实时图像具体包括:

采集脱粒后的谷粒实时图像,并通过X射线探测采集谷粒内米粒的实时图像。

【权利要求10】根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述获得谷粒和米粒的个数、面积及谷粒实粒数具体包括:

分别对所述谷粒图像和米粒图像进行前期滤波去噪处理和阈值分割,得到分离的谷粒和米粒图形;

计算谷粒和米粒个数,测量谷粒和米粒的面积,对比谷粒图像中特定谷粒与对应米粒图像中该谷粒内米粒的面积,当所述米粒面积与谷粒面积的比值大于一特定阈值时,该谷粒为实粒,得到所有谷粒中的实粒数。

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