[实用新型]利用二维PSD位置传感器测量矩形导轨直线度的装置无效

专利信息
申请号: 200820028060.4 申请日: 2008-01-08
公开(公告)号: CN201155969Y 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 乔卫东;马薇;于殿泓;王思恩 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22;G01B11/26
代理公司: 西安弘理专利事务所 代理人: 罗笛
地址: 710048*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 利用 二维 psd 位置 传感器 测量 矩形 导轨 直线 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型属于测量技术领域,涉及一种利用二维PSD位置传感器测量矩形导轨直线度的装置。

背景技术

世界各个国家对导轨直线度测量领域一直予以高度重视,并不断推出新型高精度直线度测量方法和装置,以满足日益增长的对产品质量的要求。对导轨直线度的测量有两方面的目的和要求,一是精确度要求,即测量结果必须达到一定的可信程度;二是经济性要求,即在保证测量结果精确性的前提下,应使测量过程简单、经济,花费代价最小。要满足这两方面的要求,应使用集光、机、电、算等新技术于一体的新型测量仪器,进行实时、快速、非接触测量,这是现代导轨空间直线度测量技术的发展方向。

无直线基准测量法,是指被测对象直线度的测量不是与某种直线基准进行比较,而是沿被测表面以线值测量的方法,得到被测表面上各采样点的偏差值,然后经数据处理得到被测对象的直线度误差。

直线基准测量法是直接采用一定的直线基础(Straight Line reference),并以此基准来检测被测表面的直线度误差(线差或角度值),从而获得被测表面的直线度误差值。所采用的直线基准通常实物基准、重力水平基准和光线基准有三种方法。

目前国内外在圆度、平行度以及表面粗糙度等计量领域甚至已达到纳米级测量精度水平,然而直线度的测量精度却不高,特别是在大长度范围的直线度测量领域,其精度水平更远远落后于其他计量项目。国际上只有少数几个国家达到了0.1μm/m高的精度水平。我国目前仍采用长平晶组分段互检方法作为导轨直线度检定基准,装置操作复杂,检定结果精度不高(特别是在测量大尺寸零件时尤为明显),这种状况严重制约着我国精密计量测试领域的发展步伐。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种利用二维PSD位置传感器测量矩形导轨直线度的装置,解决了现有技术中存在的操作复杂,检定结果精度不高的问题。

本实用新型所采用的技术方案是,一种利用二维PSD位置传感器测量矩形导轨直线度的装置,包括光学部分、PSD传感器和信号处理电路,光学部分包括光学支架,在光学支架上设置有激光器,激光器的发射端连接有准直装置,在准直装置的照射区设置有PSD传感器,PSD传感器安装在直线矩形导轨上的工作台上,工作台由驱动电机驱动,驱动电机与上位机连接,PSD传感器与信号处理电路连接;信号处理电路包括I/V转换电路,I/V转换电路与加减电路、除法电路、模拟通道选择开关、A/D转换器、单片机和串行通讯电路依次连接,串行通讯电路与上位机连接。

A/D转换器选用12位的AD574A转换器。

单片机选用AT89C51。

上位机选用PC机。

串行通讯电路选用RS-232。

本实用新型的有益效果是检定结果精度高,并且实现了小型化、集成化、数字化以及安装简便,操作容易。

附图说明

图1是本实用新型的工作原理示意图;

图2是本实用新型的I/V转换电路示意图。

图中,1、激光器,2、PSD传感器,3、信号处理电路,4、PC机,5、单片机。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

本实用新型是一种新的非接触检测技术装置,它以激光、红外、光纤等现代元器件为基础,通过对被检物体的光辐射进行检测,利用光电技术将位置的变化转化为电信号完成测量的,提取出有关所需的物理量,并利用了位置传感器、单片机、PC机等,是一种能够检测矩形导轨空间直线度的光电系统,能够准确地完成导轨的直线度误差测量,并能对导轨的直线度误差进行计算,对直线度误差进行评定,并对系统进行误差分析。

本实用新型包括光学部分、PSD传感器和信号处理电路,光学部分包括光学支架,在光学支架上设置有激光器1,激光器的发射端连接有准直装置,在准直装置的照射区设置有PSD传感器2,PSD传感器2安装在直线矩形导轨上的工作台上,工作台由驱动电机驱动,驱动电机与PC机4连接,PSD传感器2与信号处理电路3连接;信号处理电路3包括I/V转换电路,I/V转换电路与加减电路、除法电路、模拟通道选择开关、A/D转换器、单片机5和串行通讯电路依次连接,串行通讯电路与PC机4连接。

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