[实用新型]平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板无效
申请号: | 200820033604.6 | 申请日: | 2008-03-28 |
公开(公告)号: | CN201207368Y | 公开(公告)日: | 2009-03-11 |
发明(设计)人: | 黄秋铭;张雄;李青;朱立锋;林青园;王保平;陈程 | 申请(专利权)人: | 南京华显高科有限公司 |
主分类号: | H01J9/42 | 分类号: | H01J9/42;G01R31/02 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 | 代理人: | 夏 平;瞿网兰 |
地址: | 210061江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平板 显示 面板 电极 缺陷 检测 测试 | ||
1、一种平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板,其特征是可以由在玻璃(1a)表面依次烧结有电极(1b)和介质层(1c)的PDP面板构成;可以是在玻璃或者其它非导电材料(1a)的表面蒸镀一层金属等导电材料作为测试电极(1b1),然后在测试电极的局部测试区内覆盖绝缘介质层(1c)构成;可以是采用整块的银、铝、铜或其合金等导电金属材料作为测试电极(1b1),然后在这些金属材料表面采用表面氧化的氧化工艺形成一层不导电的绝缘层(1c)构成。
2、根据权利要求1所述的平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板,其特征是测试电极(1b)或(1b1)的所用材料可以是银、铝、铜等导电金属及其合金或表面镀有导电材料膜的非金属材料,测试面板的基板(1a)、侧边(3)、绝缘介质层(1c)、绝缘介质层(12)所用材料可以为玻璃、陶瓷、塑料膜、有机绝缘层、无机绝缘层、金属材料的表面氧化等非导电的绝缘介质层。
3、根据权利要求1所述的平板显示面板电极线缺陷的检测用的测试面板,其特征是它可以是略小于待测面板,测试面板(1)与待测面板(2)保持相对固定的静态检测方式,此时检测仅移动检测头(8),也可以是测试面板(1)小于待测面板(2),检测时固定待测试面板(2),同时移动测试面板(1)和检测头(8)的动态扫描的检测方式。
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