[实用新型]基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置无效
申请号: | 200820035122.4 | 申请日: | 2008-04-09 |
公开(公告)号: | CN201184867Y | 公开(公告)日: | 2009-01-21 |
发明(设计)人: | 宋瑛林;王煜;李云波;杨俊义;王玉晓 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陶海锋 |
地址: | 215123江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 相位 相干 成像 系统 测量 材料 光学 非线性 装置 | ||
1.一种基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置,入射激光通过分束镜分成两束,一束为探测光进入测量光路,通过4f系统后由CCD相机采集;另一束为参考光,进入参考光路;样品位于测量光路4f系统的傅立叶平面,其特征在于:所述参考光路是4f系统,且参考光路的出射方向和测量光路的出射方向平行,参考光路与测量光路的出射光照射在同一个CCD相机上。
2.根据权利要求1所述的基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置,其特征在于:所述测量光路由相位光阑(4)、两个凸透镜(6、8)构成的4f系统、中性衰减片(9)和CCD相机(10)组成,所述参考光路由分束镜(5)、反射镜(11)、两个凸透镜(12、13)构成的4f系统、中性衰减片(14)、两个反射镜(15、16)和CCD相机(10)组成。
3.根据权利要求2所述的基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置,其特征在于:所述测量光路中的两个凸透镜(6、8)的焦距相等,所述参考光路中的两个凸透镜(12、13)的焦距相等。
4.根据权利要求2所述的基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置,其特征在于:测量光路中,所述相位光阑(4)到第一个凸透镜(6)的距离等于该凸透镜(6)的焦距;第二个凸透镜(8)到所述CCD相机(10)的距离等于该凸透镜(8)的焦距。
5.根据权利要求2所述的基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置,其特征在于:参考光路中,所述相位光阑(4)到分束镜(5)、分束镜(5)到反射镜(11)和反射镜(11)到第一个凸透镜(12)这三段距离之和等于该凸透镜(12)的焦距;第二个凸透镜(13)经两个反射镜(15、16)到CCD相机(10)的距离和等于该凸透镜(13)的焦距。
6.根据权利要求2所述的基于4f相位相干成像系统测量材料的光学非线性的装置,其特征在于:所述分束镜(5)的透过率和反射率各为50%。
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