[实用新型]真空两段式治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种治具，尤其是一种真空两段式治具。

背景技术

电子线路集成板(PCB板)在生产过程中需要经历很多的环节，每一环节都需要有相应的测试仪器来检测产品的好坏。治具是一个提供PCB板测试的平台，其工作原理是利用探针将PCB板上的待测点与测试机器中的对应点导通，通过调用测试机器中对应的程序来实现最终的测试。

现有的治具结构如图1、图2所示。治具分为上下模、保护上下载板、上下针板、上下活动板及支撑柱，各类定位系统、高低探针及输出P-PIN或接口板加接口针。其中图中所示的下模底部是固定在测试机器上的，上下载板用来保护探针及待测板和用载板上之导柱定位待测板使探针对准测试点，定位系统是确保测试点与探针能准确的定位，P-PIN或接口板加接口针是用来转接探针与测试机台中的对应点。探针组件分为探针和针套，探针是通过针套环固定在针板上的，复位弹簧确保每次测试完后探针和载板都能复位。

但是，现有结构的治具在使用中还存在一些问题：使用于ATE(or ICT)之Power on测试：在所有ATE(or ICT)测试机都有上电测试的功能，Poweron(上电)后可以使UUT(待测板)局部上电后进行数字组件的功能量测。近些年电路板功能越来越强(线路结构也越复杂)，也越讲究省电功能(工作电压也越低)；当ATE治具压合测试到Power on阶段，某些数字组件会因特定Nets(线路节点)接触探针致使阻抗增加，引发保护功能致使该类组件因无法得到额定的工作电压而无法进行功能测试。

针对这些问题的传统解决方式：

①用人工把这些针点一一拔除，再进行测试，这样做的不利因子是：如果把这些针点一一拔除，会造成对产品测试的测试零件之含盖率不足，产生有些零件无法测试对产品良率间接造成影响。另外在插拔探针时，容易使针套偏移，造成探针无法准确接触测试点，影响测试结果。

②传统使用高低探针的真空治具因弹簧以及探针力分布不均，所以仅限于单面治具使用。

实用新型内容

本实用新型的目的是：提供一种真空两段式治具，在使用中能按测量要求很方便地使已设定的会干扰或不须测试的探针脱离，能方便进行二次测量。

本实用新型的技术方案是：一种真空两段式治具，用以测试电子线路集成板，它包括上模、下模、用以保护待测板和导正测试针点的上保护载板和下保护载板、上针板、下针板、用以确保待测点与探针准确定位的定位系统、高低探针组件；所述下模底部固定在测试机器上，所述探针组件包括探针、针套，由复位弹簧确保每次测试完后探针和载板复位，其特征在于：所述上针板与下针板间设置有能相对应卡钩在一起的卡钩装置，所述真空两段式治具还包括装设有上活动针板、下活动针板，上活动针板、下活动针板上装设有支撑柱。

下面对上述技术方案进行进一步解释：

所述卡钩装置包括设置在下针板上的T型钢，以及设置在上针板上的能卡钩住T型钢的卡钩机构，所述卡钩机构上设置有用以实现卡钩机构卡钩抓紧放开动作的针型气缸。

所述上活动针板设置有上汽缸带动其运动，下活动针板设置有下汽缸带动其运动。

所述上汽缸的运动方向为水平方向运动，上汽缸通过能将水平运动转变成垂直运动的上联动机构与上活动针板连接。

所述上联动机构包括有左右方向传动杆、联动板、凸轮轴承、上下方向传动杆；所述上汽缸通过左右方向传动杆连接联动板，上汽缸左右运动推动联动板左右运动，联动板上设置有导槽，凸轮轴承安装于导槽内，联动板通过凸轮轴承连接上下方向传动杆，联动板左右运动转化为上下方向传动杆的垂直运动，上下方向传动杆与上活动针板连接，上下方向传动杆垂直运动推动上活动针板垂直运动。

所述上联动机构还包括有用于导引及确保联动板按水平方向运动的直线导轨机构。

所述下汽缸的运动方向为水平方向运动，下汽缸通过能将水平运动转变成垂直运动的下联动机构与下活动针板连接。

所述下联动机构包括有左右方向传动杆、联动板、凸轮轴承、上下方向传动杆；所述下汽缸通过左右方向传动杆连接联动板，下汽缸左右运动推动联动板左右运动，联动板上设置有导槽，凸轮轴承安装于导槽内，联动板通过凸轮轴承连接上下方向传动杆，联动板左右运动转化为上下方向传动杆的垂直运动，上下方向传动杆与下活动针板连接，上下方向传动杆垂直运动推动下活动针板垂直运动。

所述下联动机构还包括有用于导引及确保联动板按水平方向运动的直线导轨机构。

本实用新型的真空两段式治具与现有技术中类似治具相比，其优点是：