[实用新型]错误产生卡

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及一种错误产生卡，特别是一种关于内存的错误产生卡。

【背景技术】

DDR3为一高速并列传输总线技术。大部份的内存控制器(memorycontroller)皆有支持单一位数据错误侦测及更正，多位数据错误侦测，所以这为在研发阶段，必测的项目。

以往(DDR，DDR2)产生位错误(bit error)的方式有二种：

1、选用一标准任一厂家的内存条。在以重工(rework)的方式选一至二数据线接至跳线一端，跳线另一端短路到地，测试时再将跳线二端短路产生位错误。此种方法原理虽容易，但重工容易失败，产生错误数据时间长短不易控制，有可能会产生错误的测量结果。再者重工后的内存条也不适合再做其它系统测试，形成浪费；

2、制作一桥接板，连接在内存条插槽上。在桥接板上加上错误产生电路，再将标准任一厂家的内存条插在其后，再控制桥接板上错误产生电路，产生位错误，测试系统。此种方法弹性高，但由于增长了所有高速信号长度，会有信号质量的问题，不适用于高速传输，容易造成错误的测量结果。

有鉴于此，实有必要提出一种错误产生卡，利用该错误产生卡产生错误数据时间长短容易控制，而且与系统频率同步；不需重工，可重复使用，不会浪费，缩短了测试时间；不加长信号长度，信号不会反射及信号质量的问题；不会产生错误的测量结果；除了可对数据位加入错误产生电路外，也对地址线(address bus)，ECC等其它信号加入错误产生电路，可使系统测试更加完整。

【发明内容】

因此，本实用新型提供一种错误产生卡，以实现充分容易控制产生位错误数据时间的长短而且与系统频率同步，不加长信号长度，信号不会反射及信号质量的问题，不会产生错误的测量结果的目的。

为达到上述目的，本实用新型提供一种错误产生卡，其与内存条分别插在机箱的插槽(SLOT)中应用于一系统，该错误产生卡包括：

若干个按键，该若干按键分别对应产生一位错误信号；

一错误产生电路，其与上述若干个按键相连接，该错误产生电路用于产生位错误信号给系统；

一终端电阻，其与上述错误产生电路相连接，该终端电阻用于防止高速信号反射，影响总线信号的品质；

一振荡器，其与上述错误产生电路相连接，该振荡器用于产生外加频率信号，从而控制位错误时间。

特别地说，上述若干按键分别控制产生0～63bit的错误；上述若干按键还可控制产生位错误时间的长短、方式；上述错误产生电路的电源由系统提供；上述振荡器为一个50MHz的振荡器。

相较于现有技术，本实用新型的错误产生卡产生错误数据时间长短容易控制，而且与系统频率同步；不需重工，可重复使用，不会浪费，缩短了测试时间；不加长信号长度，信号不会反射及信号质量的问题；不会产生错误的测量结果；除了可对数据位加入错误产生电路外，也对地址线(address bus)，ECC等其它信号加入错误产生电路，可使系统测试更加完整。

为对本实用新型的目的、构造特征及其功能有进一步的了解，兹配合附图详细说明如下：

【附图说明】

图1绘示本实用新型的错误产生卡的方块图。

【具体实施方式】

参照图1，其为本实用新型的错误产生卡的方块图。

本实用新型提供一种错误产生卡，于本实施例中，其与内存条分别插在机箱的插槽(SLOT)中应用于一系统，该错误产生卡包括：

若干个按键1，该若干按键1分别对应产生一位错误信号，该若干按键1包括：十六个产生位错误按键，其用二维矩阵的方式(8x8)控制；两个控制位错误时间长短按键；两个控制位错误时间方式按键；

一错误产生电路2，其与上述若干个按键1相连接，该错误产生电路2用于产生位错误信号给系统，同时系统会根据所插入的内存条来提供频率信号给错误产生电路2与内存条，该错误产生电路2的电源由上述系统提供；

一终端电阻3，其与上述错误产生电路2相连接，该终端电阻3用于和内存条之间进行数据、地址信号的相互传输，防止高速信号反射，影响总线信号的品质；

一振荡器4，其与上述错误产生电路2相连接，该振荡器4用于产生外加频率信号，从而控制位错误时间，该振荡器4为一个50MHz的振荡器。

于本实施例中，首先设定好错误产生卡要产生错误的位及方式，在机箱的插槽中分别插入错误产生卡及内存条，将系统开机进入某一测试程序，在按下错误产生卡上的一按键1，根据上述设定好要产生错误的位及方式，错误产生电路2会产生相应的错误位数据，最后查看系统是否侦测到相关的错误信息及是否即时更正这些错误信息，通过这些来判断该系统是否工作正常。