[实用新型]一种电子元器件自动测试包装机无效

专利信息
申请号: 200820051518.8 申请日: 2008-07-30
公开(公告)号: CN201268411Y 公开(公告)日: 2009-07-08
发明(设计)人: 吴启权;曹勇祥 申请(专利权)人: 珠海市运泰利自动化设备有限公司
主分类号: B65B65/00 分类号: B65B65/00;B65B5/00;B65B5/10;B07C5/34
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司 代理人: 李彦孚
地址: 519000广东省珠海市斗门区新青科技工*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子元器件 自动 测试 装机
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种电子元器件自动测试包装机。

背景技术

科技的进步,促进生产力的提高,也推动着社会的发展;电子产业是发展势头最强劲的产业之一,电子产品在日常生活和工作中随处可见,因此广阔的市场,孕育了无限商机,巨大的需求量是机遇也是挑战;抢占市场依靠的是实力,而竞争力的核心是科技技术,所以技术创新是产业发展的关键。电子元器件的生产在电子行业中占据很大分量,且电子元器件的生产技术日渐成熟,然而生产出来的电子产品需要经全面的测试保证其质量并将其妥善包装再投放到市场,测试和包装工序也是产品推广的重要环节,对产品进行测试和包装是更好地为产品质量把关,而测试及包装过程不应该给生产效率拖后腿,如果测试和包装所花的时间太长,则拖慢了生产节奏,因此,为提高产品质量和满足日益提高的需求量,必须在保证质量的前提下提高测试效率和包装效率,其有效途径就是改进技术。在现有技术中,多是采用“点对点”的测试与包装方式,即是将一个生产出来的产品放在指定的测试点进行测试,测试完毕之后再将其放到包装点进行包装,然后再放另一个产品到该测试点和包装进行测试及包装,这种测试和包装方式速度慢、自动化程度较低、测试时间过长,且现有技术的测试工序较繁琐,因此效率较低,不利缩短生产周期,在一定程度上束缚了生产力。

为解决上述问题,很多生产厂家都在尝试技术上的更新和突破,以达到测试高效、包装快捷的生产效果,从而缩短产品的生产周期,提高其经济效益。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种效率高、自动化程度高、结构紧凑的电子元器件自动测试包装机。

本实用新型所采用的技术方案是:本实用新型包括防护橱、电气柜,所述防护橱设置有侧橱门、后橱门,所述电气柜设置有前柜门、后柜门、侧柜门,所述前柜门和后柜门设置有通风孔,所述电气柜的上端面设置有自动测试装置、成品包装装置,所述自动测试装置在所述防护橱内,所述成品包装装置在所述防护橱外;

所述的自动测试装置包括底座、立柱I、立柱II、立柱III、立柱IV、下料固定板、固定横杆I、固定横杆II,所述立柱I、所述立柱II、所述立柱III、所述立柱IV及所述下料固定板分别固定安装于所述底座上,所述固定横杆II横架于所述立柱I和所述立柱II之间并固定,所述固定横杆I横架于所述立柱IV与所述固定横杆II之间并固定,所述底座还设置有XY移动台、自动测试转盘,所述XY移动包括下滑轨、上滑轨,所述下滑轨固定安装于所述底座上,所述上滑轨与所述下滑轨相配合,所述上滑轨设置有待测品盘,所述待测品盘可沿所述上滑轨作滑移动作,所述自动测试转盘圆周设置有至少两个测试夹具,所述固定横杆I设置有上料位导轨,所述上料位导轨配合有上料位,所述固定横杆I还设置有上测试位I、上测试位II,所述底座还设置有下测试位I、下测试位II,所述上测试位I和上测试位II在所述测试夹具的上方对应位置,所述下测试位I和下测试位II在所述测试夹具的下方对应位置,所述上测试位I与下测试位I视为第一组测试位,所述上测试位II与下测试位II视为第二组测试位,根据需要可以在其他测试夹具的对应位置设置多组测试位,使多组测试位对电子元器件进行不同内容的测试,亦可以按要求关闭其中的某组或某几组测试位;所述固定立柱III的顶部安装有坏品处理位导轨I,所述坏品处理位导轨I配合有坏品处理位I,所述固定横杆I还设置有坏品处理位导轨II,所述坏品处理位导轨II配合有坏品处理位II,所述下料固定板的上端固定安装有下料位导轨,所述下料位导轨配合有下料位,所述下料位沿所述下料位导轨作来回滑移传输工作;

所述XY移动台的上滑轨和下滑轨包括端板I、端板II、底板、步进电机、丝杆、移动导轨位移台,所述端板I和端板II分别与所述底板固定配合,所述步进电机安装于所述端板I上,所述移动导轨的两端分别与端板I、端板II相配合,所述丝杆安装在所述底板上,所述位移台与所述丝杆及所述移动导轨相配合;

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