[实用新型]一种电子元器件自动测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电子元器件自动测试装置。

背景技术

社会的发展，科技的进步，现代电子技术更是显现出良好的发展势头，其中电子元器件的生产技术也得到长足的发展，电子元器件在生活和工作中的应用越来越广泛，为提高产品质量和满足日益提高的需求量，必须加大力度对产品的生产及检测，产品的检测是产品推广的重要一环，对产品进行测试是更好地为产品质量把关，而测试过程不应该给生产效率拖后腿，要提高测试效率和生产效率，有效途径就是改进技术。在现有技术中，多是采用“点对点”的测试方式，即是将一个生产出来的产品放在指定的测试点进行测试，测试完毕之后将其取出，再放另一个产品到该测试点进行测试，这种测试方式速度慢，测试时间长对电子元器件的测试速度和测试质量达不到生产的要求，现有技术的测试工序较繁琐，自动化程度不高，因此效率较低，不利缩短生产周期。

为解决上述问题，很多生产厂家都在尝试技术上的更新和突破，试图缩短产品的生产周期，从而提高其经济效益。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种自动化程度高、效率高和质量高的电子元器件自动测试装置。

本实用新型所采用的技术方案是：本实用新型包括底座、立柱I 2、立柱II、立柱III、立柱IV、下料固定板、固定横杆I、固定横杆II，所述立柱I、所述立柱II、所述立柱III、所述立柱IV及所述下料固定板分别固定安装于所述底座上，所述固定横杆II横架于所述立柱I和所述立柱II之间并固定，所述固定横杆I横架于所述立柱IV与所述固定横杆II之间并固定，所述底座还设置有XY移动台、自动测试转盘，所述XY移动包括下滑轨、上滑轨，所述下滑轨固定安装于所述底座上，所述上滑轨与所述下滑轨相配合，所述上滑轨设置有待测品盘，所述待测品盘可沿所述上滑轨作滑移动作，所述自动测试转盘圆周设置有至少两个测试夹具，所述固定横杆I设置有上料位导轨，所述上料位导轨配合有上料位，所述固定横杆I还设置有上测试位I、上测试位II，所述底座还设置有下测试位I、下测试位II，所述上测试位I和上测试位II在所述测试夹具的上方对应位置，所述下测试位I和下测试位II在所述测试夹具的下方对应位置，所述上测试位I与下测试位I视为第一组测试位，所述上测试位II与下测试位II视为第二组测试位，根据需要可以在其他测试夹具的对应位置设置多组测试位，使多组测试位对电子元器件进行不同内容的测试，亦可以按要求关闭其中的某组或某几组测试位；所述固定立柱III的顶部安装有坏品处理位导轨I，所述坏品处理位导轨I配合有坏品处理位I，所述固定横杆I还设置有坏品处理位导轨II，所述坏品处理位导轨II配合有坏品处理位II，所述下料固定板的上端固定安装有下料位导轨，所述下料位导轨配合有下料位，所述下料沿所述下料位导轨作来回滑移传输工作；

所述XY移动台的上滑轨和下滑轨包括端板I、端板II、底板、步进电机、丝杆、移动导轨位移台，所述端板I和端板II分别与所述底板固定配合，所述步进电机安装于所述端板I上，所述移动导轨的两端分别与端板I、端板II相配合，所述丝杆安装在所述底板上，所述位移台与所述丝杆及所述移动导轨相配合；

所述自动测试转盘包括转盘体、传动轴、轴筒、伺服电机、支架，所述测试夹具设置在所述转盘体上，所述传动轴的两轴端分别与所述伺服电机及所述转盘体相配合，所述伺服电机通过所述传动轴控制所述转盘体的旋转，所述转动轴置于所述轴筒内部，所述轴筒固定于所述支架上，所述支架固定安装于所述底座上；

所述底座还设置有坏品回收盒，所述坏品回收盒位于所述坏品处理位下方，与所述坏品处理位相对应。

本实用新型的有益效果是：本实用新型中，上料位将待测品盘中的待测品转移到转盘体的测试夹具上，测试转盘作圆周运动，当测试夹具上的产品转到测试位的对应位置，接受测试位的全面测试，再转到坏品处理位的对应位置，如测试出该产品为坏品，即不合格产品，则由坏品处理位将其转移到坏品回收盒，经过测试的合格产品转至下料位的对应位置，由下料位将其提取；此工作过程紧凑有序、自动化程度高、测试效率高，有效保障电子元器件的产品质量，缩短了产品的生产周期，将高质量的产品快速投放市场，满足广大用户需求。综上所述，本实用新型有效解决了技术问题，达到预期技术目的。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的另一视角结构示意图；

图3是本实用新型的自动测试转盘结构示意图；

图4是本实用新型的XY移动台结构示意图；