[实用新型]双光路去噪声载波-包络相位测量装置无效

专利信息
申请号: 200820059891.8 申请日: 2008-06-18
公开(公告)号: CN201269780Y 公开(公告)日: 2009-07-08
发明(设计)人: 宋立伟;冷雨欣;张春梅;王建良;李小芳;李儒新;徐至展 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02;G01J11/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 双光路去 噪声 载波 包络 相位 测量 装置
【权利要求书】:

1、一种双光路去噪声载波—包络相位测量装置,特征是其构成包括:沿待测激光束的前进方向上依次是第一透镜(1)、白宝石片(2)、第二透镜(3)和第一分束片(4),该第一分束片(4)将激光分为透射光束和反射光束,所述的透射光束,经延时器(5)延时后被第二分束片(11)反射;所述的反射光束由第一反射镜(6)反射后经第三透镜(7)、BBO晶体(8)、第四透镜(9),被第二反射镜(10)反射,透过所述的第二分束片(11),与该第二分束片(11)的反射光束合并成一束,射入光谱仪(12)的狭缝中,该光谱仪(12)与计算机(13)连接,所述的白宝石片(2)位于第一透镜(1)的焦点,所述的BBO晶体(8)位于所述的第三透镜(7)的焦点后1厘米,所述的第一分束片(4)、第二分束片(11)、第一反射镜(6)和第二反射镜(10)与射入的光束呈45°。

2、根据权利要求1所述的双光路去噪声载波—包络相位测量装置,其特征在于所述的延时器(5)是由相互垂直的两块全反镜放在移动滑轨上和调节螺杆而构成。

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