[实用新型]萃取柱老化装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种萃取柱老化装置，属于工业检测、质量检验和免疫检测领域。

背景技术

多年来，痕量样品、微量样品的检测一直是分析研究领域的重点，但同时又是难点。随着样品的复杂程度日益提高，这种检测愈发具有挑战性。近年来，研究者提出了多种解决方法，其中最有效的方法之一是预富集技术。预富集能够根据样品的特点，针对性的选择吸附材料，实现对样品的专一高效吸附，在富集样品的同时还能实现去除杂质的干扰，引起了众多研究者广泛的兴趣。同时一些商品化萃取材料的出现，也使得这种技术由实验室研究拓展到工业检测、质量检验和免疫检测等领域，有许多方法还成为了国家标准。

在实际样品分析中，应用最广泛的是气相色谱和液相色谱，因此萃取预富集与这两类仪器的联用最为常见。由于气相色谱进样时，样品进样口温度高，对富集材料要求较高，预富集材料即萃取柱必须能够耐高温、稳定性好。为最大限度的避免富集材料进样时材料本体释放或材料存储时所吸附的其他杂质释放而引起检测干扰和对样品的污染，对于同气相色谱分析方法联用的萃取柱必须经过程序高温老化。但是目前还缺乏此类对于萃取材料专属的老化设备，给此类萃取柱的应用带来不便。

发明内容

针对上述现有技术中存在的问题，本实用新型提供了一种萃取柱老化装置，该萃取柱老化装置能够很好的实现萃取柱老化，以便于同气相色谱仪器联用，避免检测干扰、避免污染色谱柱。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案如下：一种萃取柱老化装置包括柱温箱、加热元件、温度传感器、温度控制器，柱温箱上开有进气孔和出气孔，柱温箱外表开有萃取柱固定孔，萃取柱固定孔位于柱温箱体顶部，固定孔数量为一个或多个。柱温箱内安装有气流循环风扇和加热元件，加热元件的一端通过温度补偿导线与温度控制器连接；加热元件的另一端通过温度传感器与温度控制器连接，温度控制器位于柱温箱外，温度传感器位于柱温箱内，温度传感器通过温度补偿导线连接在温度控制器通与加热元件之间。

所述加热元件为电热丝，电热丝的加热温度范围介于50度—600度。

所述温度控制器的温控范围介于50度—600度，控温精度±1度。

进气孔位于柱温箱体的下半部分，出气孔位于柱温箱体的上半部分，其中进气孔与气压钢瓶连通，出气孔直接与环境大气连通。

使用本实用新型时，先将萃取柱插入萃取柱固定孔中。进气孔与压缩气体钢瓶相连接，控制气压钢瓶向柱温箱中充气，气体经加热元件加热到所需温度，加热的气体经循环风扇在箱体内循环均匀，从而对萃取柱进行加热，实现对萃取柱的高温老化，最后由出气孔排出。温度传感器通过温度补偿导线连接在温度控制器通与加热元件之间，温度控制器可以随时监控加热元件的温度，并实现对加热元件温度的控制。

本实用新型结构简单，能够对与气相色谱联用的萃取柱进行高温老化，有效避免在此类萃取柱实际应用时造成的不便，避免因萃取柱原因引起痕量样品或微量样品分析的失败，提高此类样品检测的可靠性。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为图1的俯视图。

图中1为进气孔，2为萃取柱固定孔，3为加热元件，4为气体循环风扇支架，5为气体循环风扇，6为出气孔，7为温度补偿导线，8为温度控制器，9为温度传感器，10为柱温箱。

具体实施方式

如图1、图2所示，本实用新型包括进气孔1、萃取柱固定孔2、加热元件3、气体循环风扇支架4、气体循环风扇5、出气孔6、温度补偿导线7、温度控制器8、温度传感器9和柱温箱10。柱温箱10上开有进气孔1和出气孔6，柱温箱外表开有萃取柱固定孔2，柱温箱内安装有加热元件3，加热元件3的一端通过温度补偿导线7与温度控制器8连接，加热元件3的另一端通过温度传感器8与温度控制器9连接。

如图1所示，进气孔1位于柱温箱体10的下半部分的低端，出气孔6位于柱温箱体10上半部分的顶端。柱温箱10内设有气流循环风扇5，气流循环风扇5通过气体循环风扇支架4固定于柱温箱10内。

本实施例所用加热元件3为电热丝，电热丝的加热温度范围介于50度—600度。所用温度控制器9的温控范围介于50度—600度，控温精度±1度。

萃取柱插入在萃取柱固定孔2中。进气孔1与气体钢瓶相连接，通过钢瓶阀向柱温箱体10内通气体，气体经加热元件3加热到所需温度，从而对萃取柱进行加热，实现对萃取柱的高温老化，气体并经循环风扇5在箱体内循环均匀，最后由出气孔6排出。