[实用新型]一种基于EP1C3T144的超声检测装置有效
| 申请号： | 200820068473.5 | 申请日： | 2008-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN201233272Y | 公开（公告）日： | 2009-05-06 |
| 发明（设计）人： | 王秀;程建政;刘俊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院武汉物理与数学研究所 |
| 主分类号： | G01H11/00 | 分类号： | G01H11/00 |
| 代理公司： | 武汉宇晨专利事务所 | 代理人： | 王敏锋 |
| 地址： | 43007*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ep1c3t144 超声 检测 装置 | ||
1、一种基于EP1C3T144的超声检测装置，它由超声探头(1)、高速A/D器件(3)、FPGA芯片(4)、高速缓存(5)、PCI接口芯片(6)构成，其特征在于：在超声探头(1)后设置高频放大器(2)，高频放大器(2)分别与超声探头(1)和高速A/D器件(3)相连，高速A/D器件(3)分别与高频放大器(2)、FPGA芯片(4)和高速缓存(5)相连，高速缓存(5)分别与高速A/D器件(3)、FPGA芯片(4)和PCI接口芯片(6)相连，PCI接口芯片(6)分别与高速缓存(5)和PCI总线(7)相连，FPGA芯片(4)分别与高速A/D器件(3)和高速缓存(5)相连。
2、根据权利要求书1所述的一种基于EP1C3T144的超声检测装置，其特征在于：高速A/D器件(3)上有引脚VREF OUT、VREF IN、AIN、AIN、DS、DS、ENC、ENC、DEMUX、A，其外围电路由0.1μF电容C1、C2、C3和1kΩ电阻L构成，0.1μF电容C1一端与VREF OUT、VREF IN、AIN、1kΩ电阻L、0.1μF电容C2相连，另一端与地相连；0.1μF电容C2一端与0.1μF电容C1、VREF OUT、VREF IN、AIN、1kΩ电阻L相连，另一端作为模拟输入端VIN；1kΩ电阻L一端与0.1μF电容C1、C2、VREF OUT、VREF IN、AIN相连，另一端与引脚AIN相连；0.1μF电容C3一端与引脚ENC相连，另一端与地相连；高速A/D器件(3)引脚VREF OUT分别与0.1μF电容C1、C2、VREFIN、AIN、1kΩ电阻L相连；高速A/D器件(3)引脚VREFIN分别与0.1μF电容C1、C2、VREF OUT、AIN、1kΩ电阻L相连；高速A/D器件(3)引脚AIN分别与0.1μF电容C1、C2、VREF OUT、VREF IN、1kΩ电阻L相连；高速A/D器件(3)引脚AIN与1kΩ电阻L相连；高速A/D器件(3)引脚DS悬空；高速A/D器件(3)引脚ENC与0.1μF电容C3相连；高速A/D器件(3)引脚DS、ENC、DEMUX分别与FPGA芯片(4)分配的I/O端口相连；高速A/D器件(3)的数据输出端口A与高速缓存(5)的数据输入端口相连。
3、根据权利要求书1所述的一种基于EP1C3T144的超声检测装置，其特征在于：FPGA芯片(4)与高速A/D器件(3)通过控制信号DS、ENC、DEMUX相连，与高速缓存(5)通过控制信号WEN、REN、WCLK、RCLK、OE、HF、FF/IR相连。
4、根据权利要求书1所述的一种基于EP1C3T144的超声检测装置，其特征在于：高速缓存(5)与高速A/D器件(3)的数据输出端口A相连，与FPGA芯片(4)通过控制信号WEN、REN、WCLK、RCLK、OE、HF、FF/IR相连。
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