[实用新型]一种半导体器件热处理用斜槽复式芯片舟无效
| 申请号： | 200820088373.9 | 申请日： | 2008-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN201210488Y | 公开（公告）日： | 2009-03-18 |
| 发明（设计）人： | 张彩根 | 申请（专利权）人： | 张彩根 |
| 主分类号： | H01L21/673 | 分类号： | H01L21/673;F27D5/00 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所 | 代理人： | 李大刚 |
| 地址： | 313009浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体器件 热处理 斜槽 复式 芯片 | ||
【权利要求书】：
1、一种半导体器件热处理用斜槽复式芯片舟，其特征在于：它包括对称设置的叉套管(1)，叉套管(1)两端的上方对称焊接有上槽棒(2)，叉套管(1)中部的下方焊接有支架(3)，支架(3)下方焊接有下槽棒(4)，上槽棒(3)和下槽棒(4)上设有倾斜角度对应的宽度不等的斜槽(5)，下槽棒(4)两端设有对称的挡板(6)。
2、根据权利要求1所述的半导体器件热处理用斜槽复式芯片舟，其特征在于：所述的叉套管(1)、支架(3)、上槽棒(2)、下槽棒(4)和挡板(6)均采用石英玻璃制成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
