[实用新型]射频同轴连接器信号测试连接装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于通讯设备进行测试时的射频同轴连接器连接装置。

背景技术

通讯设备中广泛使用到各种型号的射频同轴连接器。由于射频同轴连接器的优良特性，不光射频信号、很多数字信号的连接也使用到。

在对使用了射频同轴连接器的非射频类单板进行功能和性能的测试时，需要使用一定的装置和射频同轴连接器进行连接，从而实现被测试单板与外部环境之间的通讯。如何使得这种连接快速准确的达成，是在进行测试时需要解决的问题。

现有技术中，有三种方案对射频同轴头进行连接：

方案1：使用线缆连接，即使用射频电缆连接被测对象上的射频同轴连接器的射频头和测试环境。该方案简单易实现，但线缆的插拔全靠人工进行，效率低下，且射频电缆的寿命有限，需要经常更换。

方案2：使用普通射频探针，即射频探针的尾部带有射频电缆，射频电缆的另一端带有另一个射频同轴连接器，用来连接外部环境。该方案中，被测对象需要设计专门的测试点，射频同轴连接器和测试点信号并联。利用射频探针接触测试点，实现信号的通讯。该方案的优点是可实现测试操作的自动化，缺点是射频探针的成本偏高，强度较差，因安装或操作不当等原因，极易损坏。且必须在被测对象上设计专门的测试点，测试点的尺寸必须和选定的射频探针的型号匹配，不具备通用性。

方案3：使用专用射频探针，该方案和方案2类似，不同的是这类射频探针不需要测试点，可直接和射频连接器对接，是目前较好的解决方案。但该类射频探针成本高昂，且针对不同型号的射频连接器需要选择不同的射频探针，不具备通用性，因此目前应用并不广泛。

综上所述，现有技术方案中，方案1效率低下，不利于大规模测试，方案2不够稳定可靠，且成本较高，方案3成本高昂，增加了测试成本。

实用新型内容

本实用新型所要解决的问题是针对非射频类的中低频率信号提供一种成本低廉、结构简单、使用方便、可靠稳定的射频同轴连接器信号测试连接装置。

本实用新型所采用的技术方案是：射频同轴连接器信号测试连接装置包括安装块、探针组a和探针组b和射频电缆，所述安装块上加工有两个通孔用以分别压装探针组a和探针组b，所述射频电缆包括射频线缆和射频同轴连接器，射频同轴连接器焊接在射频线缆的一端，所述射频线缆另一端的线芯与探针组a连接，另一端的屏蔽层与探针组b连接。

所述探针组a包括探针和针套，探针插入针套中；所述探针组b包括探针和针套，探针插入针套中，所述射频线缆未焊接射频同轴连接器的另一端线芯焊接在探针组a的针套尾部，另一端的屏蔽层焊接在探针组b的针套尾部。

本实用新型的有益效果是：本实用新型克服了现有技术方案存在的或效率低下、或性能不稳、或成本高昂等缺点，由于探针的特性，使得连接可自动化进行，测试效率得到保障；由于探针直接探接射频同轴连接器的管脚，稳定可靠，测试性能得到保障；由于普通探针组价格相当低廉，从而极大的降低了成本，并且制作简单、安装方便。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型用于连接射频同轴连接器的示意图。

具体实施方式

现结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述：

如图1所示，本实用新型所述的连接装置包括安装块101、探针组a102、探针组b 103、射频电缆104，安装块101包括基座105，基座105上设有通孔a 106和通孔b 107，安装块101通过基座105安装在设备上；探针组a102包括探针108和针套109，探针组a 102压装在通孔a 106中；探针组b 103包括探针110和针套111，探针组b 103压装在通孔b 107中；射频电缆104包括射频线缆112和焊接在线缆另一端的射频同轴连接器113，射频线缆112包括线芯114和屏蔽层115，射频同轴连接器113包括信号芯116和屏蔽壳117。

安装块101材质采用防静电性能良好的非金属材料，探针组a 102压装入通孔a 106、探针组b 103压装入通孔b 107后，探针组a 102和探针组b 103之间电绝缘，射频线缆112的线芯114焊接在针套109尾部，将射频线缆112的屏蔽层115焊接在针套111的尾部。