[实用新型]电子组件透视检测装置有效

专利信息
申请号: 200820114102.6 申请日: 2008-05-23
公开(公告)号: CN201251431Y 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 董文山;范炽格 申请(专利权)人: 骏泽科技股份有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B15/04;G01N23/18;G01N21/88
代理公司: 北京华夏博通专利事务所 代理人: 刘 俊
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 电子 组件 透视 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种电子组件透视检测装置,在无须移动电子组件的情况下对电子组件进行检测,其特征在于,所述电子组件透视检测装置包含:

光源组件,该光源组件用以产生出照射电子组件所需的X光光源及/或可见光光源;

承载组件,该承载组件用以承载该电子组件,并让该X光光源及/或该可见光光源照射该电子组件;以及

成像组件,该成像组件包含

X光转换/影像增强部件,该X光转换/影像增强部件会将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增强;

镜头;

CCD照相机;于该X光转换/影像增强部件下方的该镜头以及该CCD照相机,将所照射出的该电子组件的影像传送到影像辨识组件;

以及;

影像辨识组件,该影像辨识组件分析、判断所得的电子组件的影像,而以检测该电子组件是否为良品。

2.如权利要求1所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述光源组件包含:

X光产生器,该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源;以及

可见光灯源,该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需的可见光光源。

3.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合后的迭合影像。

4.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件的影像为该电子组件的外形轮廓影像。

5.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件的影像为该电子组件的内部透视影像。

6.如权利要求3所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件的该外形轮廓影像的形成先于该内部透视影像。

7.如权利要求3所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件的该内部透视影像的形成先于该外形轮廓影像。

8.如权利要求1或2所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件为发光二极管LED。

9.如权利要求3所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件为发光二极管LED。

10.如权利要求4所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件为发光二极管LED。

11.如权利要求5所述的电子组件透视检测装置,其特征在于,所述电子组件为发光二极管LED。

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