[实用新型]磁畴观测装置无效
申请号: | 200820119785.4 | 申请日: | 2008-06-26 |
公开(公告)号: | CN201210185Y | 公开(公告)日: | 2009-03-18 |
发明(设计)人: | 杨永斌;徐文东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12;G02B21/36 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 观测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及磁畴,特别是一种磁畴观测装置。
背景技术
纳米磁性材料是一种重要的纳米材料。除了具有纳米材料的介观特性外,还具有其特殊的磁性能,如量子尺寸效应、超顺磁性,交换耦合特性,磁各向异性以及磁致伸缩效应等。这些性质使其在现代科学技术中具有重要而广泛的应用,从而使纳米磁性材料成为国际科技研究的热点领域之一。磁畴结构及其运动规律直接决定了磁性材料的物理性质和应用方向,因此纳米尺度的磁畴检测是进行纳米磁性材料研究的前提条件。
目前观测磁性材料上的磁畴主要是通过磁力显微镜来实现的。磁力显微镜中镀有磁性薄膜的探针会与被测样品所产生的磁场发生相互作用,这使得磁力显微镜的微探针悬臂的弯曲程度和共振频率发生变化,通过分析探针振动位相或频率的改变可得出被测样品上的磁畴结构及分布等信息。这种方法对被测样品的制备质量要求较低且允许施加的磁场范围较大,但也存在如下不足之处:
1)磁力显微镜的价格昂贵,在100万元以上;
2)对被测样品的尺寸有要求,直径在15cm以下;
3)磁力显微镜所用针尖较昂贵(一般为1000元以上)并易损坏;且当被测样品与针尖所用材料的磁性不匹配时(针尖和样品各自的漏磁场和各向异性场需满足一定条件),针尖和样品之间会形成磁化干扰,得到的磁畴结构分布图将由表征正常畴结构的杂散场衬度和干扰形成的磁化衬度叠加而成。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题在于克服上述在先技术的不足,提供一种磁畴观测装置,该装置应具有造价较低、不易损坏,不受待测样品的尺寸限制,通用性强的特点。
本实用新型的基本构思:
本实用新型是基于巨磁阻磁头的电阻值随外界磁场的变化而变化的原理进行磁畴的观测的。给巨磁阻磁头加上一个恒定的电流后,当外界的磁场发生变化时,巨磁阻磁头本身的电阻值会改变,因而此巨磁阻磁头的读出信号端的电压信号也会发生相应变化。利用伪彩色法并通过计算机中的软件将巨磁阻磁头扫描待测样品表面时所获得的一系列电压数据进行画图,即可得出被测样品上磁畴结构及其分布情况。
本实用新型的技术解决方案如下:
一种磁畴观测装置,其构成的特点是:在电控位移台上固定有一供置放待测样品的四维样品调整架,在该四维样品调整架的正前设有xy向扫描器,在该xy向扫描器中间的方形通孔内壁上设有沿z轴运动的z向扫描器,在该z向扫描器的后端固定磁头夹具,该磁头夹具的后端固定装有巨磁阻磁头的磁头悬架组件,在该巨磁阻磁头的一侧是光学显微镜、CCD摄像头和监视器,所述的光学显微镜和CCD摄像头组合在一起后和所述的磁头悬架组件中的滑块同光轴并构成成像关系,所述的光轴与z轴垂直,所述的CCD摄像头的输出端接所述的监视器的输入端,在所述的巨磁阻磁头的另一侧与所述的光学显微镜相对设有离子风机,所述的巨磁阻磁头的读出信号端通过所述的磁头夹具与数字源表相连,该数字源表一方面向所述的巨磁阻磁头提供一个恒定的电流,同时采集所述的巨磁阻磁头读出信号端的电压信号,该数字源表的信号输出端与计算机相连。
所述的磁头夹具是由防静电材料制成的。
将固定待测样品的四维样品架固定在电控位移台上,由电控位移台带动四维样品架在z向上移动,由电控位移台和四维样品架作为待测样品的粗定位装置;
磁头悬架组件固定在磁头夹具上,由z向扫描器和xy向扫描器带动巨磁阻磁头在z向上向待测样品做细逼近,并对待测样品表面在xy向上进行扫描;
利用光学显微镜、CCD摄像头和监视器实时观测巨磁阻磁头和待测样品之间的接触情况;
用离子风机对巨磁阻磁头吹风消除静电对巨磁阻磁头的影响;
所述的计算机具有绘图软件,利用伪彩色法并通过计算机中的绘图软件将巨磁阻磁头扫描待测样品表面所获得的一系列电压数据进行画图,得出被测样品上磁畴结构及其分布情况。
本实用新型相对于在先技术有以下优点:
1、造价比较低,在50万元以下;
2、装有巨磁阻磁头的磁头悬架组件是商用的,较便宜(一般两美元左右);利用离子风机解决了巨磁阻磁头易受静电损坏的问题后,一般不会受其它问题的影响而导致损坏;不存在与磁性材料之间的匹配问题;
3、对被测样品的尺寸没有限制;
4、为配合微米水平待扫描区域的选择,设置了四维样品架,作为样品的粗定位装置。
总之,本实用新型装置具有造价较低、不易损坏,不受待测样品的尺寸限制,通用性强。
附图说明
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