[实用新型]低维材料应力状态下性能测试装置无效

专利信息
申请号: 200820124254.4 申请日: 2008-12-05
公开(公告)号: CN201340379Y 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 韩晓东;岳永海;张跃飞;张泽 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01N13/10 分类号: G01N13/10;G01N27/00;G01N21/65;G01N21/63
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人: 刘 萍
地址: 100124*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 材料 应力 状态 性能 测试 装置
【权利要求书】:

1.低维材料应力状态下性能测试装置,其特征在于:包括底座和一端固定在底座上、另一端为自由端的压电陶瓷,在底座固定压电陶瓷的一侧安装了一个三轴位移调节装置,该三轴位移调节装置的自由端位于压电陶瓷的上方并在三轴位移调节装置上固定着支撑台,软悬臂梁固定在支撑台上;压电陶瓷的自由端上固定着支持座,支持座一侧固定在压电陶瓷上,另一侧位于压电陶瓷的上方,并与三轴位移调节装置自由端相对平行放置,支持座上固定着另一支撑台,硬悬臂梁固定在另一支撑台上;压电陶瓷通过外接引线连接到外加驱动电源上。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于:在底座的上平面安装激光定位系统,并将激光定位系统外接到外部计算机处理系统。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于:在压电陶瓷和底座之间安装用以保证压电陶瓷受力均匀的支撑柱。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于:所述的外加驱动电源采用交流或者直流电源。

5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于:所述的硬悬臂梁以及软悬臂梁外接电极。

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