[实用新型]半导体机台的改良机构无效

专利信息
申请号: 200820130057.3 申请日: 2008-09-08
公开(公告)号: CN201266599Y 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 刘奎江;陈力山;陈英信 申请(专利权)人: 力鼎精密股份有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/3065;C23F4/00;H01J37/32
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 陈肖梅;谢丽娜
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 半导体 机台 改良 机构
【权利要求书】:

1.一种半导体机台的改良机构,其特征在于,包括:

一制程反应室;

一间缝阀,位于该制程反应室的侧壁上;

一基座,设于该制程反应室中;

一衬套结构,连接于该基座;以及

一制程器具,设于该制程反应室中,连接于该基座;

其中,当制程开始前,一晶圆通过该间缝阀传送至该制程反应室,该制程器具位于一第一位置;当该晶圆通过该间缝阀传送至该制程反应室后,该制程器具位于一第二位置,该制程器具遮盖该间缝阀。

2.如权利要求1所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,还包括一器具支架,该制程器具通过该器具支架连接于该基座,且该制程器具以连动方式连接于该器具支架,使得该制程器具与该器具支架连动。

3.如权利要求1所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,该制程器具为一文件板结构,其形状对应该间缝阀的形状。

4.如权利要求1所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,该制程器具为一长条形的文件板结构。

5.如权利要求4所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,该制程器具的面积大于或等于该间缝阀的面积。

6.如权利要求1所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,该衬套结构以连动方式连接于该基座,使得该基座与该衬套结构连动。

7.如权利要求1所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,该制程器具以连动方式连接于该基座,使得该基座与该制程器具连动。

8.如权利要求1所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,还包括多个顶销,设于该制程反应室中,当该晶圆通过该间缝阀传送至该制程反应室后,该晶圆设置于该些顶销上。

9.如权利要求1所述的半导体机台的改良机构,其特征在于,该制程反应室为一物理气相沉积室或化学气相沉积室。

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