[实用新型]阿达玛变换干涉光谱成像设备无效
| 申请号： | 200820131495.1 | 申请日： | 2008-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN201242471Y | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 周锦松;相里斌 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 | 代理人： | 康 凯 |
| 地址： | 710119陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 阿达玛 变换 干涉 光谱 成像 设备 | ||
【权利要求书】：
1.一种阿达玛变换干涉光谱成像设备，包括沿光路设置的阿达玛模板(3)，把目标成像于有n个码元的阿达玛模板(3)表面上的前置光学成像系统(1)，在阿达玛模板(3)垂直于光轴的方向上将其剪切成两个虚阿达玛模板的横向剪切干涉仪(4)，探测器(7)以及与探测器(7)连接的计算机系统(8)，
其特征在于：还包括紧贴于阿达玛模板(3)设置的光阑(2)；设置于横向剪切干涉仪(4)与探测器(7)之间的傅氏透镜(5)和柱面镜(6)，所述阿达玛模板(3)位于傅氏透镜(5)的前焦面，所述探测器(7)位于傅氏透镜(5)和柱面镜(6)的后焦面。
2.根据权利要求1所述成像设备，其特征在于：所述阿达玛模板(3)的形式为移动式机械模板、液晶空间光调制器或数字微平面镜阵列。
3.根据权利要求1所述成像设备，其特征在于：所述两个虚阿达玛模板与阿达玛模板(3)平行并且宽度方向一致。
4.根据权利要求1～3任一所述成像设备，其特征在于：所述横向剪切干涉仪为Sagnac干涉仪，Mach-Zehnder干涉仪或偏振双折射干涉仪。
5.根据权利要求4所述成像设备，其特征在于：所述探测器(7)为阿达玛变换干涉信号的接收器，包括线阵探测器和面阵探测器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200820131495.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：腕力测量机
- 下一篇：一种气表接头的连接结构
