[实用新型]非接触影像测量装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种显微镜测量装置，尤其涉及一种可测量大型工 件的显微镜测量装置。

背景技术

如图6所示，为现有的显微镜测量装置，由图中可见，该装置设有 一平台90，此平台90是由操作滚轮91而进行X轴与Y轴水平方向 的位移，而显微镜92则位于平台上方以滚轮91控制Z轴方向的垂直 位移。

然而，现有的显微镜测量装置因平台90尺寸较小，因此对于大型 的工件，则无法测量，且现有的显微镜测量装置在调整显微镜倍率及光 源等，皆需手动调整，在操作上非常不方便。

再者，待测量物93需以非接触影像测量装置测量，尺寸是相当的 微小，而测量仪器利用显微镜头，其所需的精确度则更为严谨，因此测 量的精准度除装置本身的测量器具精密度外，待测量物93于平台90 上的定位亦会影响测量，亦即，一般的待测量物93通常放置在平台9 0上，而当操作滚轮91使平台进行X轴与Y轴的位移时，待测量物9 3易在位移时造成移位现象(如图7所示)，因此让待测量物93于测量 的基准点偏移。

因此，如何解决上述现有的显微镜测量装置，无法测量大型工件及 操作不易与测量精准度失准的问题，即为本实用新型的重点所在。

实用新型内容

本实用新型所要解决的主要技术问题在于，克服现有技术存在的上 述缺陷，而提供一种非接触影像测量装置，其以非接触的方式对大型工 件进行更精细的测量，在操作上非常方便，并在测量时被测物是固定不 动，不易有误差产生。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种非接触影像测量装置，其特征在于：一基座，该基座上设有一 大型的平台，供放置大型尺寸的被测物，该基座于该平台两相对侧分别 设有一立柱，且于二立柱间连结一横柱，该横柱由二立柱带动于该平台 上滑移，而该横柱设有一滑座，该滑座是沿该横柱轴向滑移，且该滑座 与该横柱的滑移方向相互垂直，另，该滑座设有一显微镜组，该显微镜组 是沿该滑座轴向移动，供于该平台上方垂直上下位移，且该显微镜组包 括一可旋转的鼻轮及一同轴光源，该鼻轮设有数个不同倍率且朝平台方 向设置的显微镜头，该同轴光源是作为该显微镜头测量时的光源。

前述的非接触影像测量装置，其中更包括有一电脑及一轴控卡，以 全自动方式来控制横柱、滑座以及显微镜组位移，使该显微镜组可相对 该平台进行X、Y以及Z轴方向的位移，并可控制显微镜组的显微镜头 撷取影像以及自动控制鼻轮旋转调整不同倍率的显微镜头来变倍。

前述的非接触影像测量装置，其中显微镜组是搭载高解析彩色摄影 机以及高速处理影像撷取卡，且以自动对焦控制器自动对焦。

前述的非接触影像测量装置，其中显微镜头是利用同轴光源，于影 像撷取时借由电脑控制其光源亮度。

前述的非接触影像测量装置，其中基座上的平台是以高精度铝合金 或玻璃制成。

本实用新型的有益效果是，其以非接触的方式对大型工件进行更精 细的测量，在操作上非常方便，并在测量时被测物是固定不动，不易有 误差产生。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的立体外观示意图

图2是本实用新型的滑座沿X轴滑动的示意图

图3是本实用新型的立柱带动横柱沿Y轴滑动的示意图

图4是本实用新型采同轴光的显微镜头以及显微镜沿Z轴滑动的示 意图

图5是本实用新型的待测量物于平台定位的示意图

图6是现有的非接触影像测量装置的立体外观示意图

图7是现有的非接触影像测量装置的平台滑移导致待测量物位移的 示意图

具体实施方式

请参阅图1至图5，图中所示为本实用新型所选用的实施例结构。

本实施例提供一种非接触影像测量装置，其包括：