[实用新型]光学膜厚测试仪

说明书

技术领域：

本实用新型与光学真空镀膜生产过程中在线检测膜厚的装置有关。

背景技术：

已有的模拟膜厚测量仪(以南光机器的GMHK-9704光学膜厚测量控制仪为代表)由主信号低噪声放大器、参考信号放大器、移相电路、带通滤波器、PSD解调电路、低通滤波器、DC增益器、显示器组成(原理框图如图8所示)。

这种装置是测量调制光源通过被测基片的光强弱变化(以选出的某一波长的光信号)。通过常用的光电转换器(光电倍增管)输出的被测信号的电信号，再经过放大处理加到PSD解调电路和测量用调制光源之间经光电转换得到的参考信号进行锁相解调得到与薄膜厚度成比例的交流信号(频率等于光源的调整频率)，最后再经交直流转换后用显示器(多为指针式表)显示出来。

在已有的模拟膜厚测量仪中采用如图8的方案设计，通过调剂参考信号的相位达到测量的最大值，需要手工反复调节达到最佳状态。在PSD的解调电路中理论应使用乘法器，参考信号应是纯净的正弦波信号，但实际工程中不易得到正弦波的信号，电子开关式的PSD解调电路还存在交跃失真，而且模拟电路的温漂较大，稳定性较差。

实用新型内容：

本实用新型的目的是提供一种参考信号为数字信号，运行稳定、调节方便、测量精度高的光学膜厚测试仪。

本实用新型是这样实现的：

本实用新型光学膜厚测试仪，主输入信号依次经串联的差分放大器、陷波器、主信号放大器、低通滤波器和偏置叠加器输入模数转换器、模数转换器的输出接逻辑可编程器件，参考输入信号经参考信号处理电路输入逻辑可编程器件，逻辑可编程器件的输出与单片机连接，单片机与显示器连接。

参考信号处理电路由接口P1接入参考信号，经低通滤波器滤波、第一运算放大器WB放大和比较器U2整形为方波信号后输入逻辑可编程器件。

差分放大器由第二运算放大器U1构成，陷波器由串连的第一放大器U3和第二放大器U4构成、第一、二放大器分别与电阻和电容构成50Hz和100Hz陷波器，主信号放大器为反向放大器，通过调节电阻R13校准放大位数，低通滤波器为二阶低通滤波器U5，偏置叠加器由基准芯片U14和第三运算放大器U6构成，基准芯片输出基准电压加入第三运算放大器，使由低通滤波器U5输入的双极性信号变换为基准电压为中心的单极信号输入模数转换器，逻辑可编程器件为可编程门卫阵列，单片机与键盘和串口连接。

本实用新型的参考信号改为方波信号控制逻辑可编程芯片的电子开关，调节参考信号的相位较为容易。逻辑可编程芯片采用数字乘法器、高纯度的参考信号和数字低通滤波器，运行稳定，调试方便，而且可以取出人工调节相位差，实现快速全自动测试，不会因为信号的频率和相位发生改变而解调错，使用更加便捷。

本实用新型使用极值法判别，虽然而设备中的信号幅度小，极易受到外部干扰，甚至完全融入在噪声中，使用本实用新型可提取出有用信号，并稳定显示出信号大小，提供0.1％的精度。

光学膜厚测试仪采用单片机、现场可编程门阵列(FPGA)等新型电子器件，所有数字解调全部在FPGA内部完成，单片机完成显示与按键控制，并与工控机通信。外部模拟型号使用差分放大器输入，并且使用低噪声运放增加信噪比。运算电路由数字电路代替，可降低模拟电路的温度漂移量，提高线性度，解决了模拟电路存在的过零误差，进一步提高设备稳定性。

附图说明：

图1为本实用新型框图。

图2为偏置叠加器电路原理图。

图3为差分放大器电路原理图。

图4为陷波器电路原理图。

图5为主信号放大器电路原理图。

图6为低通滤波器电路原理图。

图7为参考信号处理电路原理图。

图8为已有的模拟膜厚测量仪框图。

具体实施方式：

参考信号处理电路见附图7，输入的信号从图左端的P1屏蔽接口输入，经电容C1，再经电阻R1和电容C4组成的低通滤波器滤除高频噪声后，通过运放U1B的放大后。再通过电容C3，到电阻R3和电容C5滤波后达到比较器U2，整形为标准方波信号由JP1接头输出到逻辑可编程件FPGA的180脚处理分析。

主信号的处理共分为五级电路(见附图2-6)。