[实用新型]一种双曲晶体X荧光光谱分析仪

权利要求书

1.一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于它包括分光测量室、抽真空部件、样品室、送样器、X射线激发源、供电电源、信息采集与处理器、仪器系统控制器及上位分析计算机；所说的分光测量室依真空管路接口与抽真空部件对接，依X射线入射法兰接口与样品室对接，依电源与信息交换接口连通供电电源，依电缆通讯线分别连通信息采集与处理器和仪器系统控制器；所说的样品室分别连接送样器和X射线激发源；所说的信息采集与处理器依信息与控制线连通仪器系统控制器；所说的仪器系统控制器依标准接口连通上位分析计算机。

2.根据权利要求1所说的一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于所说的分光测量室内部安装有连续衍射分光与探测装置，所说的连续衍射分光与探测装置为四自由度联动机构，它由支撑托盘、罗兰圆盘、固定行走槽、晶体部件、齿条I、X射线探测器、齿条II、探测器拉臂、共有齿轮及罗兰圆盘电机构成；其中，支撑托盘上依固定行走槽支柱安装有固定行走槽；所说的罗兰圆盘上装有确保支撑托盘与罗兰圆盘的平行配置的平行滑行块，罗兰圆盘上间断的开有聚焦圆轨道，聚焦圆轨道上装有单列圆锥滚子轴承，在轴承的两侧备有安装晶体部件的晶体部件安装孔；所说的X射线探测器安装在探测器拉臂上，X射线探测器窗口前配有探测器狭缝；所说的探测器拉臂内装有齿条I，齿条I一端与共用齿轮啮合配装，探测器拉臂的探测器端装有可在聚焦圆轨道内滑移的拉臂移动轴；所说的固定行走槽内装有与探测器拉臂内相同的齿条II，齿条II一端与共用齿轮啮合装配，另一端配有入射线狭缝并装有罗兰圆盘导向轴，导向轴与入射线狭缝同轴并与聚焦圆轨道呈滑动装配；所说的晶体部件依晶体部件安装孔固定在聚焦圆轨道上，晶体部件与聚焦圆轨道之间叠装固定行走槽和探测器拉臂；所说的共用齿轮为一实现罗兰圆盘、晶体部件、X射线探测器位移的推动轮，它与罗兰圆盘电机轴呈同轴锁紧装配，并同时啮合固定行走槽内和探测器拉臂内的两条完全相同的齿条；所说的罗兰圆盘电机与其轴上的共用齿轮为四自由度联动机构的动力源，电机轴通过单列圆锥滚子轴承与罗兰圆盘配接。

3.根据权利要求2所说的一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于所说的晶体部件是表面曲率为1/R，晶面曲率为1/2R的双曲晶体，R半径的取值范围10cm≤R≤50cm；晶体部件的晶体架上可装1至4块曲率相同、晶面间距不同的双曲晶体，通过转动更换晶体；晶体部件中的晶体选用LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PET(002)、TAIP(001)、TAM(020)、ADP(101)或KAP(001)。

4.根据权利要求2所说的一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于述所说的X射线探测器包括X射线探测器件、电荷灵敏及线性成形放大器、多道脉冲幅度分析器、探测器件高压及气体密度稳定器；其中X射线探测器件可选用流气或充气正比计数管、NaI(Tl)闪烁计数器、CsI闪烁计数器。

5.根据权利要求2所说的一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于所说的罗兰圆盘上的聚焦圆轨道的半径R取值范围为10cm≤R≤50cm。

6.根据权利要求1所说的一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于所说的X射线激发源为功率小于1KW且循环冷却的X射线激发源。

7.根据权利要求1所说的一种双曲晶体X荧光光谱分析仪，其特征在于所说的信息采集与处理器内有中央处理控制器，它由C8051F系列单片机支持，外部晶振频率高达100MH_Z；所说的C8051F系列单片机包括C8051F120、C8051F122、C8051F124、C8051F126、C8051F060、C8051F060、C8051F062和C8051F063。