[实用新型]用于光学平板的高精度量具

说明书

技术领域

本发明涉及一种量具，特别是涉及一种用于光学平板玻璃在加工过程中的外围寸法测量的高精度量具。

背景技术

传统光学平板玻璃(或称：光学平板)加工中，外围寸法测量工序是光学行业中很重要的一道工序，传统的测量方法是用游标卡尺进行光学平板测量，这种测量方法效率不高，测量工时很大，而且会因游标卡尺的误差及操作方法各异造成误检，其对寸法要求非常严格的产品更是容易误检，造成这种误检的主要原因是：由于卡尺在使用时，不断的来回运动，造成磨损，引起精度误差。用数显卡尺测量光学平板玻璃，对精度要求高的产品经常会有数字显示误差等异常，另外，因操作不当引起的误差更是很难避免。

发明内容

本实用新型的目的就是要解决传统光学平板玻璃加工中外围寸法测量效率不高、误差较大甚至误检的问题，设计一种用于光学平板玻璃在加工过程中的外围寸法测量的高精度量具。

本实用新型通过如下技术方案来实现的：本实用新型包括靠体、底板和两组基准块，靠体为一长条形状并固定于底板的一侧表面上，一组基准块--基准块A及基准块B设于底板的一侧表面上部，另一组基准块--基准块C及基准块D，设于底板的一侧表面下部，各基准块与底板之间设有可使基准块上下左右滑动的滑动键、槽，在两组基准块间设有镜片(或称：光学平板玻璃)放置区，基准块A、D和基准块B、C之间有一定的间隙，靠体的一侧面设计为基准面E，基准块A一侧面设计为基准面A1，基准块B一侧面设计为基准面B1，基准块C一侧面设计为基准面C1，基准块D一侧面设计为基准面D1，基准面A1、B1、C1、D1、E均为平面。

本实用新型与传统光学平板玻璃的测量方法相比，本实用新型改变原来用卡尺测量光学平板玻璃尺寸的方法，本实用新型通过两组基准块的定位尺寸来确定尺寸的正负公差，移动镜片的四个测量方向可以判断镜片尺寸是否合格，解决了用卡尺测量光学平板玻璃尺寸时，因卡尺误差造成的测量误差以及测量效率低的问题，具有准确度高、测量效率高、制作简单、调整方便等优点。本实用新型很有推广价值，必受使用者欢迎，有很大市场。

附图说明

图1为用传统卡尺测量光学平板玻璃平面示意图

图2为光学平板玻璃平面示意图。

图3是本实用新型结构的平面示意图。

具体实施方式

以下结合附图的具体实施例对本实用新型进一步说明。(但不是对本实用新型的限制)。

如图1为传统用数显卡尺测量光学平板玻璃平面示意图，图2为光学平板玻璃平面示意图。光学平板玻璃3在卡尺固定测量爪2和移动测量爪1之间进行测量，光学平板玻璃在测量爪的位置和方向均会影响到测量精度，在测量超过测量爪端面的光学平板玻璃(或称：镜片)时误差会更大，同时为了保证产品质量需要增加测量的次数，这样就降低了检验的效率。图3是本实用新型的结构平面示意图，如图3所示，本实用新型包括靠体4、底板5和两组基准块，靠体4为一长条形状并固定于底板5的一侧表面上，一组基准块--基准块A及基准块B设于底板5的一侧表面上部，另一组基准块--基准块C及基准块D，设于底板5的一侧表面下部，各基准块与底板5之间设有可使基准块上下左右滑动的滑动键、槽(注：一面为键，对应面即为槽)，在两组基准块之间设有镜片(或称：光学平板玻璃)放置区6，基准块A、D和基准块B、C之间有一定的间隙，以便清除异物，靠体的一侧面设计为基准面E，基准块A一侧面设计为基准面A1，基准块B一侧面设计为基准面B1，基准块C一侧面设计为基准面C1，基准块D一侧面设计为基准面D1，基准面A1、B1、C1、D1、E均为平面。基准面均是平面度很好的平面。

基准块A、B、C、D可以与联接手动或电动直线调节台连接，可以通过联接手动或电动直线调节台，来调节基准块A、B、C、D上下左右方向的尺寸，可以通过调节台的读数装置，设定实际测量的尺寸基准，调节范围可根据调节台的不同而定。

基准块连接前用产品的最大正公差标准块靠紧基准面E面来定位基准块B和基准块C，用产品的最小负公差标准块靠紧基准面E面来定位基准块A和基准块D。