[实用新型]一种发光二极管测试装置无效
申请号: | 200820147063.X | 申请日: | 2008-08-27 |
公开(公告)号: | CN201293821Y | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
发明(设计)人: | 李好平;田东伟 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01J1/00;G01M11/00 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种发光二极管,尤其涉及一种发光二极管测试装置。
背景技术
发光二极管(Light Emitting Diode,LED)属于半导体器件,其原理是:在半导体PN结的两端加上电压时,电子开始移动和空穴结合,此时多余的能量将以光的形式释放出来,产生辐射光,从而把电能直接转换为光能。其被广泛用于越来越多的领域,比如用在手机键盘、液晶显示屏和照明中,因此LED好坏的测试变得越来越重要,现在一般都采用这样的方式进行测试,如图1所示,LED1放置在制具2上,开始测试时,接通测试按钮3,通过人眼观察LED1的亮暗来判断其LED是否合格,其LED测试用电压源驱动,作业员通过人眼观察接通电源的LED是否点亮来判断其是否合格,由于测试人员的主观性,从而引起测试不准确,回报结果失真。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是克服现有技术的不足,提供一种测试准确,效率高的发光二极管测试装置。
其技术问题通过以下的技术方案予以解决:一种发光二极管测试装置,包括检测电路板,其特征在于,该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导纤维和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管,所述光敏三极管安装于所述检测电路板上。
作为上述技术方案的进一步改进,所述发光二极管测试装置还包括第一密封室,所述发光二极管置于所述第一密封室内,所述第一密封室安装于所述制具上,所述第一密封室开有垂直于所述制具的第一过孔,所述第一过孔的直径与所述光学纤维的直径相等。
作为上述技术方案的进一步改进,所述发光二极管测试装置还包括第二密封室,所述光敏三极管置于所述第二密封室内,所述第二密封室安装于所述检测电路板上,所述第二密封室开有垂直于所述检测电路板的第二过孔,所述第二过孔的直径与所述光学纤维的直径相等。
作为上述技术方案的进一步改进,所述发光二极管测试装置还包括执行装置,所述执行装置置于所述第一密封室的平行于所述制具的平面上。
作为上述技术方案的进一步改进,所述发光二极管测试装置还包括固定板和工作台,所述执行装置固定于所述固定板上,所述检测电路板安装于所述工作台上。
作为上述技术方案的进一步改进,所述发光二极管测试装置还包括一指示装置,所述指示装置安装于所述工作台上。
作为上述技术方案的进一步改进,所述发光二极管测试装置还包括稳压模块,所述稳压模块的一端与所述开关相连,另一端与所述制具和所述检测电路板相连。
作为上述技术方案的进一步改进,所述发光二极管测试装置还包括开关,所述开关安装于所述工作台上。
本实用新型的有益效果是:其利用光导纤维将发光二极管发出的光传递给光敏三极管,其通过检测电路检测光敏三极管的电信号,判断其LED的好坏,其准确性和效率都大大地得到了提高。
附图说明
图1是现有测试装置示意图。
图2是本实用新型第一实施例发光二极管测试装置的结构图。
图3是本实用新型第二实施例发光二极管测试装置的结构图。
图4是本实用新型第三实施例发光二极管测试装置的结构图。
图5是本实用新型第四实施例发光二极管测试装置的结构图。
图6是本实用新型第五实施例发光二极管测试装置的结构图。
图7是本实用新型第六实施例发光二极管测试装置的结构图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
图2至图7示出了本实用新型各个实施例测试装置的结构图。如图2所示的发光二极管测试装置电路板检测电路板12,该测试装置还包括传导发光二极管光信号的光导纤维9和用于接收发光二极管光信号的光敏三极管11,光导纤维9的一端置于发光二极管的上方,光导纤维9的另一端置于光敏三极管11的上方,光敏三极管11安装于检测电路板12上。
如图3所示,该测试装置还包括密封室8、开关5和工作台4,发光二极管置于密封室8内,密封室8安装于工作台4上,密封室8开有垂直于工作台4的第一过孔,第一过孔的直径与光学纤维9的直径相等,密封室8的高度略高于发光二极管,将发光二极管置于密封室8内,密封室8将外界的光线与发光二极管发出的光线有效的隔离,保证光导纤维传输的光(信号)为发光二极管发出的光(信号),以保证测试的准确性。
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