[实用新型]在线铝膜测厚装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测量装置，特别是一种在线铝膜测厚装置。

背景技术

卷绕式真空镀膜机在透明塑料薄膜上镀一层铝膜，物理厚度约在200A°～500A°之间，也可用间接方法表达厚度，即在铝膜表面每平方厘米的电阻值来表达膜厚(也称方块电阻)，一般在0.5~4Ω/cm²范围内。

具体镀膜方法是在真空环境中，有收卷及放卷辊筒，薄膜大约以300米/S的速度，从放卷辊卷绕到收卷辊上，在二辊筒中间的下方有一个金属铝的加热蒸发源，将铝蒸镀到薄膜上，这样边卷边镀直至整卷膜镀完。

薄膜的宽度从1米~2米，为了保证整个幅面的镀层的均匀性及规定厚度，故需要一个量化厚度的在线测厚工具。

实用新型内容

为克服上述已有技术的不足，本实用新型要解决的技术问题是提供一种在线铝膜测厚装置，该装置可以在镀铝膜的同时，在线测量镀层的厚度，实时显示厚度的测量值。

本实用新型在线铝膜测厚装置的工作原理是：

薄膜厚层方块电阻在0.5~4Ω/cm²之间时，薄膜有一定的透光度。镀层厚，透光度低，方块电阻就小，镀层薄透光度高，方块电阻就大，测量薄膜的光线透过率可知道镀层的厚度。

本实用新型的技术方案是：

一种在线铝膜测厚装置，包括检测传感器模块、计算机数据处理模块、数据显示模块；

该检测传感器模块的输出端将电信号输出至该计算机数据处理模块的输入端，所述的计算机数据处理模块的输出端将厚度数据输出至所述的数据显示模块的输入端；

所述的检测传感器模块包括多组两两对应的红外光发射头和红外光接收头。

所述的计算机数据处理模块和所述的数据显示模块通过RS232串行口相连。

所述的每组红外光发射头和红外光接收头两头相对，距离10mm。

所述的红外光接收头使用选频放大器及带通滤器，将光信号转换成电信号输出。

所述的计算机数据处理模块的CPU是AM89S52，还包括A/D转换器、ROM和RAM。

所述的数据显示模块是HITECH PWS6600C-P液晶显示器。

所述的数据显示模块用直方图的方式，将一个幅面的厚度数据显示在屏幕上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本新型在线铝膜测厚装置能够在卷绕式镀膜机镀铝膜的同时，在线测量镀层的厚度，实时显示厚度的测量值，从而控制铝蒸发量来达到膜层的均匀性及厚度要求。

本新型在线铝膜测厚装置包括多组发射接收头组成一行，可对整个幅面进行测量，并与一行多个蒸发源相对应。

为使本新型在线铝膜测厚装置具有抗干扰能力，不受其他光线影响，故使用红外脉冲调制光发射原理，接收端使用选频放大器及带通滤器，以减少杂散光干扰，取得厚度信号。

附图说明

图1是本新型在线铝膜测厚装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型的具体实施方式做进一步详细的说明，但不应以此限制本实用新型的保护范围。

请参阅图1本新型在线铝膜测厚装置的结构示意图。本新型在线铝膜测厚装置由三部分组成：

(1)检测传感器模块：这部分安装在真空室中，该检测传感器模块的输出端将电信号输出至该计算机数据处理模块的输入端，从而将光信号转换成厚度电信号后，传送到真空室外。

该检测传感器模块包括多组两两对应的红外光发射头和红外光接收头。每组红外光发射头和红外光接收头两头相对，距离约10mm。

(2)计算机数据处理模块：将真空室内传出的厚度电信号转换成数字量，然后用计算机程度中数学模型对数据进行处理，得到厚度数据。

该计算机数据处理模块的输出端将厚度数据输出至所述的数据显示模块的输入端；所述的计算机数据处理模块和所述的数据显示模块通过RS232串行口相连。

所述的计算机数据处理模块的CPU是AM89S52，还包括A/D转换器、ROM、RAM和I/O口。

(3)数据显示模块：

得到厚度数据，经串行RS232口转入液晶显示屏，用直方图的方式，将一个幅面的厚度数据显示在屏幕上。

所述的数据显示模块可以采用HITECH PWS6600C-P液晶显示器。

本新型在线铝膜测厚装置的具体工作方法是：