[实用新型]射频识别综合测试仪器

说明书

技术领域

本实用新型属于射频识别技术领域，具体涉及一种射频识别综合测试仪器。

背景技术

一个基本的射频识别系统由读卡机、天线和标签三个部分组成。传统的频谱仪必须在有完整系统且能够工作的情况下，才能获取其间的通讯信号来分析读卡机和标签的性能，在系统不完整或不能工作的情况下是无法进行测量的。

射频识别读卡机和标签的各项技术指标由各类协议规范来决定，如ISO14443，ISO18000等。不同协议的测试项目差异很大，需要不同的设备，测试成本高。

ISO同时提出了如何来测试是否符合协议的一致性测试规范。在这些规范中详细规定了读卡机和标签能正常工作的参数变化范围，但是传统的读卡机并不能自由地调整所有这些可调参数，因此导致测试不完全。

第二代超高频射频识别标准需要在应答器和标签之间建立微秒级实时应答通讯，传统仪器无法达到这个时间要求。

发明内容

本实用新型的目的在于提出一种不依赖于外部信号源、协议覆盖广、参数测试全面、实现实时应答的射频识别综合测试仪器。

本实用新型提出的射频识别综合测试仪器，由控制器1、中频、基带处理器2、射频上变频器3、射频下变频器4组成，其结构如图1所示。控制器1的输出端接中频、基带处理器2的输入端，中频、基带处理器2的输出端接射频上变频器3的输入端，射频上变频器3的输出端接被测设备，射频下变频器4的输入端接被测设备，射频下变频器4的输出端接中频、基带处理器2的输入端。

本实用新型的工作过程如图2所示，描述如下：

第一步：初始化中频、基带处理器2、射频上变频器3和射频下变频器4。

第二步：配置中频、基带处理器2、射频上变频器3和射频下变频器4硬件参数。

第三步：把由控制器1生成的部分信号数据下载到中频、基带处理器2并经过处理生成完整的输出信号。

第四步：射频上变频器3发射射频信号并有射频下变频器4接收被测设备返回的信号，下变频后的数据传输给中频、基带处理器2。

第五步：控制器1分析中频、基带处理器2提供的数据生成测试结果。

本射频识别综合测试仪器集成了射频识别信号发生和射频识别信号分析功能，通过软件编程具备射频识别协议，能够主动与被测单元间建立通讯，不再依赖于额外的读写设备和测试仪器。

本射频识别综合测试仪器结合了先进的模块化仪器和软件无线电技术，具有高度的灵活性和软件自定义的特点，在软件层实现了对射频识别多标准的支持，使用同一系统就能够对不同协议的射频识别产品进行测试，突破了传统仪器由于其专有硬件限制的局限性。同时在软件设计中，采用了模块化的层次结构，在实现复杂算法的同时又具有简洁、标准的接口，可进行二次开发，具备了传统仪器无法比拟的可扩展性。

本射频识别综合测试仪器具有强大的软件功能，可完全实现协议规定的参数调节范围，能够对被测件进行完整的一致性测试。

本射频识别综合测试仪器采用中频、基带处理器板载FPGA的超高速实时处理能力，结合实时处理算法来实现实时应答通讯过程。

附图说明

图1为本射频识别综合测试仪的结构图示。

图2为本射频识别综合测试仪的工作过程。

图中标号：1为控制器，2为中频、基带处理器，3为射频上变频器，4为射频下变频器。

具体实施方式

下面通过实施例结合附图进一步说明本实用新型。

实施例1：将下列各部件按图1所示方式连接，该领域技术人员均能顺利实施。

控制器1采用PXIe-8106，中频、基带处理器2采用PXIe-5641R，射频上变频器3采用PXI-5610，射频下变频器4采用PXI-5600。其中，控制器1的输出端接中频、基带处理器2的输入端，中频、基带处理器2的输出端接射频上变频器3的输入端，射频上变频器3的输出端输出信号，接被测设备，射频下变频器4的输入端接被测设备，射频下变频器4的输出端接中频、基带处理器2的输入端。