[实用新型]一种具有复数吸嘴的吸附装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种吸附装置，尤其是一种具有复数吸嘴的吸附装置。

背景技术

电路元件例如集成电路元件、或光学感测元件，如CCD(Charge CoupledDevice，电荷耦合器件)或者CMOS(Complementary Metal-OxideSemiconductor，互补性氧化金属半导体)等的自动检测设备中，由于组件本身尺寸微小，在机台中或机台间输送时，通常会被置放于如图1所示，具有复数容置槽12的承载盘1中搬移；而在检测时，则通常不外乎由上方吸取电路元件2，或从下方承载电路元件2两种方式，使电路元件2的受测面被暴露，以接受指定项目检测。承载盘则依电路元件的规格，而有不同尺寸、容置槽数量与排列方式，业界也常见可收纳复数承载盘的携行盘，以配合机台的特定需求。

由于电路元件的体积愈趋轻巧，如常见安装于手持装置的光感测组件，面积通常仅约5毫米，日后甚至可能更小，且其平滑如镜的顶面供撷取光学影像，不可有刮伤或任何瑕疵，而底面则需确认例如锡球或接脚等接触部的定位精确。

目前检测上述光感测组件时，如图2所示，携行装置4通过气压调节，将组件2吸取移动至预定位置。但如前述，电路元件2体积小、重量轻，当携行装置4解除气压调节时，电路元件2却因两者接触面的材质因素或静电吸附等因素影响，有时无法顺利脱离携行装置4。此时，正在进行的检测必须暂停，由人工进行纠正，后续流程均受阻，直接影响机台的检测效率。

并且，目前常见机台所用的吸头，一次至多吸取2～4个电路元件，整体来看，检测进度缓慢，亟待改善。

因此，需要一种技术方案，以解决上述的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种有复数吸嘴的吸附装置，旨在解决现有技术中存在的对电路元件进行检测时，检测效率不高的问题。

本实用新型是这样实现的，一种具有复数吸嘴的吸附装置，所述吸附装置与气压变换装置连通，所述的吸附装置用来一次吸取分别承载于承载盘中的复数个容置槽内的电路元件，所述的吸附装置包括基座和复数吸嘴，其中：

所述基座包括与所述气压变换装置连通的通气孔以及自所述通气孔延伸的气道；

所述吸嘴位于所述基座下方，其数目与所述容置槽数目对应，所述吸嘴包括具有至少一个吸气孔的吸附面，以及连通所述吸气孔与所述气道的分流道。

所述吸嘴的吸附面为非光滑吸附面。

所述基座包括：

一个上半部；及

一个与所述上半部间共同形成所述气道、并与所述吸嘴一体成形的下半部。

所述非光滑吸附面为降低所述电路元件与所述吸附面之间贴合紧密度的喷砂处理表面。

所述基座的尺寸与复数承载盘大小对应，所述吸嘴的数目与所述复数个承载盘中的容置槽数目总和对应。

本实用新型克服现有技术的不足，在吸附装置上设置复数个吸嘴，可以一次吸取承载盘的容置槽中容置的所有待检测电路元件，可以有效提供机台的工作效率，还可直接减少吸附装置往复运动的次数；此外，吸附装置采用非光滑的吸附面，可以避免电路元件与吸嘴不能顺利脱离的弊端。

附图说明

图1是现有电路元件与承载盘的立体示意图；

图2是现有电路元件受吸取装置携行的立体示意图；

图3是本实用新型第一实施例应用立体示意图；

图4是本实用新型第一实施例吸附装置的侧视立体图；

图5是本实用新型第一实施例吸嘴的放大侧视立体图；

图6是本实用新型第二实施例携行电路元件的立体示意图；

图7是本实用新型之第二实施例释放电路元件的立体示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图3是本实用新型第一实施例应用的立体示意图，其中，具有复数吸嘴54的吸附装置5，供连通气压变换装置3，承载盘1具有复数个容置槽12，分别用来承载复数个电路元件2，吸附装置5用来一次性吸取容置槽中12中的电路元件2。

图4为本实用新型第一实施例吸附装置的侧视图，本实施例提供的吸附装置5包括基座52，该基座52包括连通至气压变换装置3的通气孔522，以及一个自该通气孔522延伸的气道524。